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자료유형
학술대회자료
저자정보
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2005년도 SOC 학술대회
발행연도
2005.5
수록면
289 - 294 (6page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2006

DTMW : Duplicated Transition Monitoring Window for Low Power Test based on Pseudo-Random BIST
Youbean Kim ,  Dongsup Song ,  Kicheol Kim 외 2명 대한전자공학회 ISOCC 2006.10 학술대회자료

2005

High Correlative Low Power Test Pattern Generator Using a Transition Monitoring Window
Youbean Kim ,  Myung-Hoon Yang ,  Yong Lee 외 1명 대한전자공학회 학술대회 2005.05 학술대회자료

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목차

Abstract
1. Introduction
2. Distribution of Random Pattern Transitions
3. Decision to set k-value and TMW size
4. Additional Logic Block for the Proposed Scheme
5. Results
6. Conclusions
7. References

참고문헌 (0)

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