A New Low Power BIST Architecture Based on Probability Models

HyeonUk Son ,  Youbean Kim ,  Kicheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

BIST structure based on new Random Access Scan architecture for Low Power Scan Test

Yong-Hyun Kim ,  Insoo Kim ,  Hyoung Bok Min

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2009 .07

IEC61850 기반의 Gateway 개발을 위한 이슈에 관한 연구

오무남 ,  이석배 ,  우천희 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2009 .07

스캔 분할 기법을 이용한 저전력 Test-Per-Scan BIST

문정욱 ,  손윤식 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

저전력 BIST를 위한 패턴 사상(寫像) 기법에 관한 연구

김유빈 ,  장재원 ,  손현욱 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .05

효율적인 혼합 BIST 방법

김현돈 ,  신용승 ,  김용준 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .08

TRACE : Transition Repression Architecture for low power scan CEll in BIST environment

Incheol Kim ,  Dongsup Song ,  Kicheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08

도시형 친화형 저 풍속 적층 연곡형 풍력발전 시스템에 관한 연구

장미혜 ,  정자춘

대한전기학회 학술대회 논문집

2010 .10

High Correlative Low Power Test Pattern Generator Using a Transition Monitoring Window

Youbean Kim ,  Myung-Hoon Yang ,  Yong Lee 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2005 .05

An Efficient BIST (Built-in Self-test) for A/D converters

Kicheol Kim ,  Youbean Kim ,  Incheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

스캔입력 변형기법을 통한 새로운 저전력 스캔 BIST 구조

손현욱 ,  김유빈 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2008 .06

혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기

金弘植 ,  李抗圭 ,  姜成昊

전기학회논문지

1998 .07

효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture )

김홍식 ,  윤도현 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1999 .12

분할 및 병렬 처리 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소

崔炳九 ,  金東郁

전기학회논문지 D

2000 .06

회로분할과 테스트 입력 벡터 제어를 이용한 저전력 Scan-based BIST 설계

신택균 ,  손윤식 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

천이 감시 윈도우를 이용한 새로운 저전력 LFSR 구조

김유빈 ,  양명훈 ,  이용 외 2명

전자공학회논문지-SD

2005 .08

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02

P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법

강동호 ,  박재석 ,  김일웅 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

반도체 메모리의 Built-In Self Test ( BIST )

조상복

전자공학회지

1992 .05