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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 SD編 第45卷 第6號
발행연도
2008.6
수록면
43 - 48 (6page)

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일반적으로 자체 테스트 동작은 입력 벡터들 사이에 상호 연관성이 없기 때문에 더 많은 전력을 소비하는 것으로 알려져있다. 이러한 점은 회로에 손상을 유발할 뿐 아니라 배터리 수명에도 악영향을 미치기 때문에 반드시 해결되어야 할 과제 중 하나이다. 이를 위해 본 논문에서는 새로운 방식의 BIST(Built-In Self Test) 구조를 제안하여 테스트 동작에서의 천이를 감소시키고, 이를 통해 전력소모를 줄이고자 한다. 제안하는 구조에서는 LFSR(Linear Feedback Shift Register)을 통해 생성되는 pseudo-random 테스트 벡터가 스캔 경로로 들어가기 전에 3 bit씩 모아 더 적은 천이를 가지는 4 bit의 패턴으로 변형한다. 이러한 변형과 그에 대한 복원 과정은 기존의 스캔 BIST 구조에서 Bit Generator와 Bit Dropper라는 모듈을 추가하여 간단히 구현하였다. 제안하는 구조를 ISCAS'89 benchmark 회로에 적용한 결과 약 62%의 천이 감소를 확인하였고, 이를 통해 제안하는 구조의 효율성을 검증하였다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안하는 스캔입력 변형기법
Ⅲ. 제안하는 스캔 BIST 구조
Ⅳ. 시뮬레이션 결과
Ⅴ. 결론
참고문헌
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