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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제43권 제9호
발행연도
2006.9
수록면
59 - 63 (5page)

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VLSI의 복잡도가 증가함에 따라, 보다 복잡한 고장이 나타나게 되었다. 단일 고장 진단을 위한 많은 방법들이 연구되어 왔다. 때로는 오류가 존재하는 칩에 대한 다중 결함이 실제 현상을 보다 더 정확하게 반영한다. 따라서 다중 고착 고장을 위한 효율적인 고장 진단 알고리듬을 제한하겠다. 제안하는 매칭 알고리듬은 완전일치공통부분을 고장 진단의 중요한 기준으로 사용함으로써 단일 고착 고장 시뮬레이터 환경에서도 다중 고착 고장을 진단할 수 있다. 또한 각 고장간의 식별성을 높여 다중 고착 고장을 진단함에도 불구하고, 고장 후보의 수를 획기적으로 줄일 수 있었다. 이를 위하여 출력단의 수에 따른 가중치 개념과 가산, 감산 연산을 사용하였다. 제안한 매칭 알고리듬은 ISCAS85회로와 완전 주사 스캔이 삽입된 ISCAS89회로에서 실험하여 성능을 입증하였다.
#Multiple Stuck-at Faults #Diagnosis #Fault Simulation

목차

요약
Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. The Proposed Diagnosis Algorithm
Ⅲ. Scoring Candidate Faults
Ⅳ. Vectorwise Intersection Table
Ⅴ. Deciding Final Candidate Faults
Ⅵ. Conclusions
References
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