결정론적 테스트 세트의 신호확률에 기반을 둔 clustered reconfigurable interconnection network 내장된 자체 테스트 기법

송동섭; 강성호

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자료유형: 학술저널

저자정보: 송동섭 강성호

저널정보: 대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제42권 제12호

발행연도: 2005.12

수록면: 79 - 90 (12page)

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본 논문에서는 의사무작위패턴만으로는 생산하기 힘든 결정론적 테스트 큐브의 생산확률을 높일 수 있는 새로운 clustered reconfigurable interconnect network (CRIN) 내장된 자체 테스트 기법을 제안한다. 제안된 방법은 주어진 테스트 큐브들의 신호확률에 기반을 둔 스캔 셀 재배치 기술과 규정 비트(care-bit: 0 또는 1)가 집중된 스캔 체인 테스트 큐브의 생산확률을 높이기 위한 전용의 하드웨어 블록을 사용한다. 테스트 큐브의 생산확률을 최대로 할 수 있는 시뮬레이티드 어닐링(simulated annealing) 기반 알고리듬이 스캔 셀 재배치를 위해 개발되었으며, CRIN 하드웨어 합성을 위한 반복 알고리듬 또한 개발되었다. 실험을 통하여 제안된 CRIN 내장된 자체 테스트 기법은 기존의 연구 결과보다 훨씬 적은 저장 공간과 짧은 테스트 시간으로 100%의 고장검출율을 달성할 수 있음을 증명한다.

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[학술지(정기간행물)] - P. H. Bardell / 1987. / Built-in Test for VLSI

[학술지(정기간행물)] - V. D. Agrawal / Mar.1993. / A tutorial on built-in self-test part 1 IEEE Design & Test of Computers 10 : 73 ~ 82

[학술지(정기간행물)] - V. D. Agrawal / June1993. / A tutorial on built-in self-test part 1 10. : 69 ~ 77

[학술지(정기간행물)] - A. J. Briers / 1986. / Random Pattern Testability by Fast Fault Simulation : 274 ~ 281

[학술지(정기간행물)] - Y. Savaria / pp.1960-19631991. / Automatic Test Point Insertion for Pseudo-Random Testing

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