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이용수
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안하는 패턴 생성 방법
Ⅲ. 실험결과
Ⅳ. 결론
참고문헌
논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!
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패턴 집단 생성 방식을 사용한 내장형 자체 테스트 기법
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내장된 자체 테스트에서 경로 지연 고장 테스트를 위한 새로운 가중치 계산 알고리듬 ( New Weight Generation Algorithm for Path Delay Fault Test Using BIST )
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1998 .07
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2002 .08
IEC61850 기반의 Gateway 개발을 위한 이슈에 관한 연구
대한전기학회 학술대회 논문집
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수정된 의사 무작위 패턴을 이용한 효율적인 로직 내장 자체 테스트에 관한 연구
전자공학회논문지-SD
2006 .08
내장된 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST의 비교분석
대한전자공학회 학술대회
1999 .11
내장형 시스템의 상호작용 오류 감지를 위한 테스트 데이타 선정 기법
정보과학회논문지 : 소프트웨어 및 응용
2003 .12
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