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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2012.12
- 수록면
- 491 - 500 (10page)
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본 논문에서는 RF 송수신 시스템 칩 내부의 저잡음증폭기(LNA)와 전체 송수신기 시스템 테스트에 효과적인 새로운 루프백(Loopback) BIST 구조를 제안한다. 제안하는 테스트기법은 외부 테스트장비 (Automatic Test Equipment)를 사용하는 기존의 테스트기법과 달리 테스트 모드에서 칩에 내장된 베이스밴드 프로세서를 테스터로 사용하므로써 테스트인가와 테스트평가등을 효율적으로 수행할 수 있는 장점을 갖는다. 높은 주파수의 테스트 출력신호는 낮은 주파수로 변환하여 베이스밴드 프로세서에서 평가하게 됨으로써 테스트용이도가 향상될 수 있다. 제안하는 테스트기법은 ATE와 같은 외부테스트장비의 필요를 최소화하고 테스트 시간과 비용을 줄여 결과적으로 칩 제조비용의 절감을 가능하게 해준다.
목차
요약
Abstract
1. 서론
2. 관련 연구
3. 새로운 BIST 구조
4. 실험 결과
5. 결론
References
참고문헌 (10)
참고문헌 신청
1. [기타자료] - Kyu-Bok Lee / 2006 / RF Module & RF-IC Technology / The Magazine of the IEEK
2. [학술대회논문] - Hyun-Chul Shin / 2005 / Design Technology of RF/Analog ICs for RFID/USN / The proceedings of KIEES 16 (3) : 33 ~ 47
3. [학술지(정기간행물)] - Qi Fan / 2010 / General Design for Test Guidelines for RFIC / Journal of Electronic Testing 26 (1) : 7 ~ 12
4. [학술지(정기간행물)] - J. Dabrowski / 2010 / Built-in Loopback Test for IC RF Transceivers / IEEE VLSI Systems 18 : 933 ~ 946
5. [학술대회논문] - D. Lupea / 2003 / RF-BIST: Loopback spectral signature analysis / Proc. Desi gn, Autom. and Test in Eur. Conf. and Exhib : 478 ~ 483
2. [학술대회논문] - Hyun-Chul Shin / 2005 / Design Technology of RF/Analog ICs for RFID/USN / The proceedings of KIEES 16 (3) : 33 ~ 47
3. [학술지(정기간행물)] - Qi Fan / 2010 / General Design for Test Guidelines for RFIC / Journal of Electronic Testing 26 (1) : 7 ~ 12
4. [학술지(정기간행물)] - J. Dabrowski / 2010 / Built-in Loopback Test for IC RF Transceivers / IEEE VLSI Systems 18 : 933 ~ 946
5. [학술대회논문] - D. Lupea / 2003 / RF-BIST: Loopback spectral signature analysis / Proc. Desi gn, Autom. and Test in Eur. Conf. and Exhib : 478 ~ 483
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