메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류
인문학
인문학 일반 역사학 철학 종교학 어문학 기타 인문학
사회과학
사회과학 일반 경영학 관광학 교육학 군사학 문헌정보학 법학 사회학 신문방송학 심리과학 정치외교학 지리학 행정학 경제학 무역학 인류학 기타 사회과학
자연과학
자연과학 일반 물리학 생물학 생활과학 수학·통계학 천문학 지구과학 화학 기타 자연과학
공학
공학 일반 건축공학 기계공학 산업공학 재료·에너지공학 전기전자공학 조선해양공학 화학공학 컴퓨터학 기타공학
의약학
의학 일반 간호학 수의학 약학 한의학 기초의학 임상의학 기타 의약학
농수해양학
농수해양학 일반 농학 수산학 식품과학 임학 축산학 해상운송학 기타 농수해양학
예술체육학
예술 일반 디자인 미술 미용 사진 음악학 의상 체육 공연매체예술 기타 예술체육학
복합학
학제간연구 과학기술학 뇌인지과학 기술정책 기타 복합학

ENG

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-TC 전자공학회논문지 TC편 제43권 제3호
발행연도
2006.3
수록면
68 - 77 (10page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
본 논문에서는 4.5-5.5GHz 저잡음 증폭기 (low noise amplifiers, LNAs)를 위한 새로운 구조의 검사용 설계(Design-for-Testability, DfT) 회로 를 제안한다. 이러한 검사용 설계회로는 고가의 장비를 사용하지 않고도 저잡음 증폭기의 전압 이득, 잡음 지수, 입력 임피던스, 입력 반사 손실 및 출력 신호대 잡음 전력비를 측정한다. 검사용 설계회로는 0.18㎛ SiGe 공정을 이용하여 설계되었으며, 입력 임피던스 정합과 직류 출력 전압 측정을 이용한다. 이러한 회로를 이용한 회로 검사 기술은 검사 방법이 간단하고 검사하는데 드는 비용이 저렴하다.

목차

요약

Abstract

Ⅰ. Introduction

Ⅱ. Test Set-up and Approach

Ⅲ. Fault Models

Ⅳ. LNA and DfT Circuit Analysis

Ⅴ. Results

Ⅵ. Conclusions

References

저자소개

참고문헌 (12)

참고문헌 신청
[학술지(정기간행물)] - / June2003. / Novel Defect Testing of RF Front End Using Input Matching Measurement 9 : 31 ~ 34 google schola [학술지(정기간행물)] - / / A New BIST Scheme for 5GHz Low Noise Amplifiers google schola [학술지(정기간행물)] - / March2003. / RF-BIST: Loopback Spectral Signature Analysis : 478 ~ 483 google schola [학술지(정기간행물)] - / 2003.11 / BiST Model for IC RF-Transceiver Front-End : 295 ~ 302 google schola [학술지(정기간행물)] - / 2003.03 / A Signature Test Framework for Rapid Production Testing of RF Circuits : 186 ~ 191 google schola

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

BIST 기법을 이용한 RF 집적회로의 테스트용이화 설계
김용 ,  이재민 디지털콘텐츠학회논문지 2012 .12

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-015402038