테스트 포인트 삽입에 의한 내장형 자체 테스트 구현

장윤석 ,  이정한 ,  김동욱

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

메모리 테스트를 위한 BIST 기술

김대익 ,  배성환 ,  이창기 외 2명

전자공학회지

1995 .12

내장된 자체 테스트에서 경로 지연 고장 테스트를 위한 새로운 가중치 계산 알고리듬 ( New Weight Generation Algorithm for Path Delay Fault Test Using BIST )

허윤 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2000 .06

BIST 기법을 이용한 RF 집적회로의 테스트용이화 설계

김용 ,  이재민

디지털콘텐츠학회논문지

2012 .12

내장형 자체 테스트 패턴 생성을 위한 하드웨어 오버헤드 축소

김현돈 ,  신용승 ,  김용준 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .07

내장된 자체 테스트를 위한 저전력 테스트 패턴 생성기 구조

김기철 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2010 .08

효율적인 혼합 BIST 방법

김현돈 ,  신용승 ,  김용준 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .08

혼성 신호 회로에 대한 효과적인 BIST

방금환 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .08

내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트

홍원기 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .12

내장된 자체검사 기법 ( BIST ) 의 기술동향

강성호

전자공학회지

1995 .12

내장형 메모리 테스트 알고리듬을 위한 범용 BIST 생성기

장종권 ,  성경호 ,  김지현

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08

아날로그-디지털 변환기의 정적 파라미터 테스트를 위한 내장 자체 테스트 방법

김인철 ,  장재원 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2012 .05

테스트 에이전트 시스템 설계

최정은 ,  최병주

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

부동소수점 DSP core의 내장된 자체 테스트 회로 구현

진명구 ,  장훈

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

내장 메모리 테스트를 위한 BIST 회로 자동생성기 ( Automatic BIST Circuit Generator for Embedded Memories )

양선웅 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2001 .10

Network-on-Chip 시스템을 위한 새로운 내장 자체 테스트 (Built-In Self-Test) 구조

이건호 ,  김인수 ,  민형복

대한전기학회 학술대회 논문집

2009 .07

혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기

金弘植 ,  李抗圭 ,  姜成昊

전기학회논문지

1998 .07

효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture )

김홍식 ,  윤도현 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1999 .12

내장된 자체 테스트 기법을 이용한 다중 클락 회로 테스트 방법론

서일석 ,  강용석 ,  강성호

대한전자공학회 기타 간행물

2001 .11