내장형 자체 테스트 패턴 생성을 위한 하드웨어 오버헤드 축소

김현돈 ,  신용승 ,  김용준 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .07

메모리 테스트를 위한 BIST 기술

김대익 ,  배성환 ,  이창기 외 2명

전자공학회지

1995 .12

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08

혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기

金弘植 ,  李抗圭 ,  姜成昊

전기학회논문지

1998 .07

BIST 기법을 이용한 RF 집적회로의 테스트용이화 설계

김용 ,  이재민

디지털콘텐츠학회논문지

2012 .12

혼성 신호 회로에 대한 효과적인 BIST

방금환 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .08

효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture )

김홍식 ,  윤도현 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1999 .12

분할 및 병렬 처리 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소

崔炳九 ,  金東郁

전기학회논문지 D

2000 .06

Network-on-Chip 시스템을 위한 새로운 내장 자체 테스트 (Built-In Self-Test) 구조

이건호 ,  김인수 ,  민형복

대한전기학회 학술대회 논문집

2009 .07

플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트

김지환 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .06

P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법

강동호 ,  박재석 ,  김일웅 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

테스트 포인트 삽입에 의한 내장형 자체 테스트 구현 ( BIST implementation with test points insertion )

장윤석 ,  이정한 ,  김동욱

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

스캔입력 변형기법을 통한 새로운 저전력 스캔 BIST 구조

손현욱 ,  김유빈 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2008 .06

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02

An Efficient BIST (Built-in Self-test) for A/D converters

Kicheol Kim ,  Youbean Kim ,  Incheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

내장된 자체 테스트를 위한 저전력 테스트 패턴 생성기 구조

김기철 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2010 .08

A New Hardware Efficient Interconnect BIST

Daeyeal Lee ,  Yongjoon Kim ,  Sungho Kang

대한전자공학회 ISOCC

2005 .10

IEC61850 기반의 Gateway 개발을 위한 이슈에 관한 연구

오무남 ,  이석배 ,  우천희 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2009 .07

VHDL을 이용한 테스트 알고리즘의 BIST 회로 설계

배성환 ,  신상근 ,  김대익 외 2명

한국음향학회지

1999 .01

고밀도 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST의 비교분석

박종욱 ,  박경택 ,  조상욱 외 1명

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .10