내장 메모리 테스트를 위한 BIST 회로 자동생성기 ( Automatic BIST Circuit Generator for Embedded Memories )

양선웅 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2001 .10

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08

메모리 테스트를 위한 BIST 기술

김대익 ,  배성환 ,  이창기 외 2명

전자공학회지

1995 .12

효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture )

김홍식 ,  윤도현 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1999 .12

분할 및 병렬 처리 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소

崔炳九 ,  金東郁

전기학회논문지 D

2000 .06

플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트

김지환 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .06

효율적인 혼합 BIST 방법

김현돈 ,  신용승 ,  김용준 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .08

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02

P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법

강동호 ,  박재석 ,  김일웅 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

내장형 메모리 테스트 알고리듬을 위한 범용 BIST 생성기

장종권 ,  성경호 ,  김지현

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

An Efficient BIST (Built-in Self-test) for A/D converters

Kicheol Kim ,  Youbean Kim ,  Incheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

혼성 신호 회로에 대한 효과적인 BIST

방금환 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .08

연상 메모리를 위한 BIST 회로 설계에 관한 연구 ( A Study on design BIST Circuit for Content Addressable Memory )

정장원 ,  이주석 ,  고학림 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

1996 .01

스캔 분할 기법을 이용한 저전력 Test-Per-Scan BIST

문정욱 ,  손윤식 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

저전력 BIST를 위한 패턴 사상(寫像) 기법에 관한 연구

김유빈 ,  장재원 ,  손현욱 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .05

BIST 기법을 이용한 RF 집적회로의 테스트용이화 설계

김용 ,  이재민

디지털콘텐츠학회논문지

2012 .12

A New Low Power BIST Architecture Based on Probability Models

HyeonUk Son ,  Youbean Kim ,  Kicheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

VHDL을 이용한 테스트 알고리즘의 BIST 회로 설계

배성환 ,  신상근 ,  김대익 외 2명

한국음향학회지

1999 .01

회로분할과 테스트 입력 벡터 제어를 이용한 저전력 Scan-based BIST 설계

신택균 ,  손윤식 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

반도체 메모리의 Built-In Self Test ( BIST )

조상복

전자공학회지

1992 .05