반도체 메모리의 Built-In Self Test ( BIST )

조상복

전자공학회지

1992 .05

내장 메모리 테스트를 위한 BIST 회로 자동생성기 ( Automatic BIST Circuit Generator for Embedded Memories )

양선웅 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2001 .10

플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트

김지환 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .06

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08

P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법

강동호 ,  박재석 ,  김일웅 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02

메모리의 PSF 테스트를 위한 BIST 구현 ( BIST implementation for testing PSF in memories )

김성무 ,  이중호 ,  조진규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

내장형 메모리 테스트 알고리듬을 위한 범용 BIST 생성기

장종권 ,  성경호 ,  김지현

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기

金弘植 ,  李抗圭 ,  姜成昊

전기학회논문지

1998 .07

효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture )

김홍식 ,  윤도현 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1999 .12

연상 메모리를 위한 BIST 회로 설계에 관한 연구 ( A Study on design BIST Circuit for Content Addressable Memory )

정장원 ,  이주석 ,  고학림 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

1996 .01

고밀도 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST의 비교분석

박종욱 ,  박경택 ,  조상욱 외 1명

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .10

분할 및 병렬 처리 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소

崔炳九 ,  金東郁

전기학회논문지 D

2000 .06

SoC 내장 메모리를 위한 ARM 프로세서 기반의 프로그래머블 BIST

이민호 ,  홍원기 ,  송좌희 외 1명

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2008 .06

메모리의 PSF 테스트를 위한 BIST 구현

김성무 ,  이중호 ,  조진규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

VHDL을 이용한 테스트 알고리즘의 BIST 회로 설계

배성환 ,  신상근 ,  김대익 외 2명

한국음향학회지

1999 .01

혼성 신호 회로에 대한 효과적인 BIST

방금환 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .08

초 고집적 메모리의 효율적인 테스트를 위한 BIST 회로와 BICS 의 설계 ( A Design of BIST Circuit and BISC for Efficient ULSI Memory Testing )

김대익 ,  전병실

전자공학회논문지-C

1997 .08

BIST 기법을 이용한 RF 집적회로의 테스트용이화 설계

김용 ,  이재민

디지털콘텐츠학회논문지

2012 .12

효율적인 혼합 BIST 방법

김현돈 ,  신용승 ,  김용준 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .08