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논문 기본 정보

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저널정보
Korean Institute of Information Scientists and Engineers 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 제35권 제5·6호
발행연도
2008.6
수록면
284 - 292 (9page)

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메모리 기술이 발달함에 따라 메모리의 집적도가 증가하게 되었고, 그에 따라 구성요소들의 크기가 작아지게 되고, 고장의 감응성이 증가하게 되어, 테스트는 더욱 복잡하게 된다. 또한, 칩 하나에 포함되어 있는 저장요소가 늘어남에 따라 테스트 시간도 증가하게 된다. SoC 기술의 발달로 대용량의 내장 메모리를 통합할 수 있게 되었지만, 테스트 과정은 복잡하게 되어 외부 테스트 환경에서는 내장 메모리를 테스트하기 어렵게 되었다.
본 논문은 ARM 프로세서 기반의 SoC 환경에서의 임베디드 메모리를 테스트할 수 있는 프로그램 가능한 메모리 내장 자체 테스트를 제안한다.
#BIST #Embedded Memory #Programmable BIST #ARM #AMBA

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. 기존 연구
3. 제안하는 프로그램 가능한 내장 자체 테스트
4. 실험결과
5. 결론
참고문헌

참고문헌 (8)

참고문헌 신청
1. [학술대회논문] - A. J. van de Goor / 1996 / Towards a uniform notation for memory tests / in Proc. European Design and Test Conf : 420 ~ 427 google schola 2. [학술대회논문] - V. G. Mikitjuk / 1996 / RAM testing algorithms for detecting multiple linked faults / in Proc. European Design and Test Conf : 435 ~ 439 google schola 3. [학술지(정기간행물)] - P. H. Bardell / 1988 / Built-in test for RAMs / IEEE Design & Test of Computers 5 (4) : 29 ~ 36 google schola 4. [학술지(정기간행물)] - V. D. Agrawal / 1993 / A tutorial on built-in self-test. 2. Principles / IEEE Design & Test of Computers 10 (2) : 73 ~ 82 google schola 5. [학술지(정기간행물)] - V. D. Agrawal / 1993 / A tutorial on built-in self-test. 2. Principles / IEEE Design & Teat of Computers 10 (2) : 69 ~ 77 google schola

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