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저자정보
심은성 (숭실대학교) 홍원기 (숭실대학교) 최정대 (숭실대학교) 장훈 (숭실대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2007년도 SOC 학술대회
발행연도
2007.5
수록면
353 - 356 (4page)

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SOC 개발에 내장 메모리의 테스트가 새로운 문제로 대두되고 있다. 메모리의 고장의 유무만을 판단하는 것을 떠나 고가의 메모리를 여분의 메모리로 재사용함 으로써 메모리의 효율성을 증가 시킬 수 있다. SoC 개발에서의 내장 메모리를 테스트하기 위해 가장 널리 사용되는 방법인 메모리 BIST(Built-In Self Test)와 메모리 BISR(Built-In Self Repair)을 기존에 사용했던 방법들의 단점을 보안하여, 사용자가 손쉽게 메모리 고장 여부를 판단하는 BIST 회로와 고장 유무 판단 후 고장난 메모리를 고장 없이 사용할 수 있도록 하는 BISR 회로를 자동으로 생성해주는 범용 GenTR(Generator of memory built-in-self-Test and built-in-self-Repair)를 개발하였다.
#메모리 #BIST #블록 매핑 기법 #완전 연관 매핑 기법 #BISR

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 기존연구
Ⅲ. BIST/BISR 구조 및 생성기
Ⅳ. BIST와 BISR 파형 검증
Ⅴ. 결론
참고문헌

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