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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 SD編 第44卷 第2號
발행연도
2007.2
수록면
113 - 120 (8page)

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최근 VLSI 회로 직접도가 급속도로 증가함에 따라 하나의 시스템 칩에 고밀도와 고용량의 내장 메모리가 구현되고 있다. 고장난 메모리를 여분의 메모리로 재배치함으로써 메모리 수율 향상과 사용자에게 메모리를 투명하게 사용할 수 있도록 제공할 수 있다. 본 논문에서는 고장난 메모리 부분을 여분의 행과 열 메모리 사용으로 고장난 메모리를 고장이 없는 메모리처럼 사용할 수 있도록 여분의 메모리 재배치 알고리즘을 제안하고자 한다.
#BIRA #BISR #Embedded Memory

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안하는 메모리 재배치 알고리즘
Ⅲ. 재배치 정보를 이용한 자가 복구 구조
Ⅳ. 실험결과
Ⅴ. 결론
참고문헌
저자소개

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1. [학술지(정기간행물)] - / 2002 / 2001 technology roadmap for semiconductors 35 : 42 ~ 53 google schola 2. [학술지(정기간행물)] - / 2002 / An efficient BIST method for distributed small buffers 10 : 512 ~ 515 google schola 3. [학술지(정기간행물)] - / 2002 / Thorough testing of any multiport memory with linear tests 21 : 217 ~ 231 google schola 4. [학술지(정기간행물)] - / 2004 / The state-of-art and future trends in testing embedded memories : 54 ~ 59 google schola 5. [학술지(정기간행물)] - / / A flexible redundancy technique for high-density DRAMs IEEE Journal of Solid-State Circuits : 12 ~ 17 google schola

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