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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 제34권 제7ㆍ8호
발행연도
2007.8
수록면
377 - 384 (8page)

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최근 VLSI 회로 직접도가 급속도로 증가함에 따라 하나의 시스템 칩에 고밀도와 고용량의 내장 메모리가 구현되고 있다. 고장난 메모리를 여분의 메모리로 재배치함으로써 메모리 수율 향상과 사용자에게 메모리를 투명하게 사용할 수 있도록 제공할 수 있다. 본 논문에서는 고장난 메모리 부분을 여분의행과 열 메모리로 효율적인 재배치를 위해 재배치 알고리즘을 제안하고자 한다. 재배치 정보는 고장난 메모리를 매번 테스트 해야만 얻을 수 있다. 매번 테스트를 통해 재배치 정보를 얻는 것은 시간적 문제가 발생한다. 이것을 막기 위해 한번 테스트해서 얻은 재배치 정보를 플래시 메모리에 저장해 해결할 수 있다. 본 논문에서는 플래시 메모리를 이용해 재배치 정보의 활용도를 높인다.
#BIRA #BISR #Embedded Memory #Flash Memory

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. 제안하는 메모리 재배치 알고리즘
3. 재배치 정보를 이용한 자가 복구 구조
4. 실험결과
5. 결론
참고문헌

참고문헌 (12)

참고문헌 신청
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