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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2009.12
- 수록면
- 73 - 79 (7page)
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최근 VLSI 회로 직접도가 급속도로 증가함에 따라 하나의 시스템 칩에 고밀도와 고용량의 내장 메모리(Embedded Memory)가 구현되고 있다. 고장난 메모리를 여분 메모리(Spare Memory)로 재배치함으로써 메모리 수율 향상과 사용자에게 메모리를 투명하게 사용할 수 있도록 제공할 수 있다. 본 논문에서는 고장난 메모리 부분을 여분 메모리의 행과 열 메모리 사용으로 고장난 메모리를 고장이 없는 메모리처럼 사용할 수 있도록 여분 메모리 재배치 알고리즘인 MRI를 제안하고자 한다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안하는 MRI 알고리즘
Ⅲ. 실험결과
Ⅳ. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (10)
참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - Jone W.B. / 2002 / An efficient BIST method for distributed small buffers / IEEE Transactionson Very Large Scale Integration Systems 10 : 512 ~ 515
2. [학술지(정기간행물)] - Hamdioui S. / 2002 / Thorough testing of any multiport memory with linear tests / IEEE Transactionson Computer-Aided Designof Integrated Circuits and Systems 21 : 217 ~ 231
3. [학술지(정기간행물)] - Chin Long Wey / 1987 / On the Repair of Redundant RAM's / IEEET ransactionson Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 6 : 222 ~ 231
4. [학술지(정기간행물)] - Wei Kang Huang / 1990 / New approaches for the repairs of memories with redundancy by row/column deletion for yield enhancement / IEEE Transactionson Computer-Aided Design of Integrated Circuitsand Systems 9 : 323 ~ 328
5. [학술대회논문] - Schober V. / 2001 / Memory built-in self-repair using redundant words / Proceedings of International Test Conference : 995 ~ 1001
2. [학술지(정기간행물)] - Hamdioui S. / 2002 / Thorough testing of any multiport memory with linear tests / IEEE Transactionson Computer-Aided Designof Integrated Circuits and Systems 21 : 217 ~ 231
3. [학술지(정기간행물)] - Chin Long Wey / 1987 / On the Repair of Redundant RAM's / IEEET ransactionson Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 6 : 222 ~ 231
4. [학술지(정기간행물)] - Wei Kang Huang / 1990 / New approaches for the repairs of memories with redundancy by row/column deletion for yield enhancement / IEEE Transactionson Computer-Aided Design of Integrated Circuitsand Systems 9 : 323 ~ 328
5. [학술대회논문] - Schober V. / 2001 / Memory built-in self-repair using redundant words / Proceedings of International Test Conference : 995 ~ 1001
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