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- 학술대회자료
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- 발행연도
- 2009.7
- 수록면
- 91 - 92 (2page)
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As the increasing integrity of VLSI, the BIST(Built-In Self Test) is used as an effective method to test chips. Generally the pseudo-random test pattern generation is used for BIST. But it requires too many test patterns when there exist random resistant faults. Therefore we propos ... 전체 초록 보기
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