메모리의 고장과 결함 검출 가능한 BIST 회로의 설계

배성환 ,  김관웅 ,  이옥재 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

저전력 BIST를 위한 패턴 사상(寫像) 기법에 관한 연구

김유빈 ,  장재원 ,  손현욱 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .05

메모리의 고장과 결함 검출 가능한 BIST 회로의 설계 ( A Design of Fault and Defectable BIST Circuit for Memories )

배성환 ,  김관웅 ,  이옥재 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02

혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기

金弘植 ,  李抗圭 ,  姜成昊

전기학회논문지

1998 .07

MOS의 D-M 오픈 고장 검출 BIST 설계

김철운 ,  김영민 외1명

한국컴퓨터정보학회논문지

1997 .02

혼성 신호 회로에 대한 효과적인 BIST

방금환 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .08

고집적 메모리의 고장 및 결함 위치검출 가능한 BIST / BICS 회로의 설계 ( A Design of BIST / BICS Circuits for Detection of Fault and Defect and Their Locations in VLSI Memories )

김대익 ,  배성환 ,  전병실

한국통신학회논문지

1997 .10

An Efficient BIST (Built-in Self-test) for A/D converters

Kicheol Kim ,  Youbean Kim ,  Incheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

1.8GHz 고주파 전단부의 결함 검사를 위한 새로운 BIST 회로

류지열 ,  노석호

전자공학회논문지-TC

2005 .06

고장 패턴을 이용한 시스템의 고장진단

이진하 ,  라경택 ,  이영석 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .07

고장검출이 용이한 논리회로 설계에 관한 연구

김호경 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1981 .01

연상 메모리를 위한 BIST 회로 설계에 관한 연구 ( A Study on design BIST Circuit for Content Addressable Memory )

정장원 ,  이주석 ,  고학림 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

1996 .01

VHDL을 이용한 테스트 알고리즘의 BIST 회로 설계

배성환 ,  신상근 ,  김대익 외 2명

한국음향학회지

1999 .01

내장 메모리 테스트를 위한 BIST 회로 자동생성기 ( Automatic BIST Circuit Generator for Embedded Memories )

양선웅 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2001 .10

반도체 메모리의 Built-In Self Test ( BIST )

조상복

전자공학회지

1992 .05

Crosstalk과 정적 고장을 고려한 효과적인 연결선 테스트 알고리즘 및 BIST 구현

민병우 ,  이현빈 ,  송재훈 외 1명

전자공학회논문지-SD

2005 .07

수정된 의사 무작위 패턴을 이용한 효율적인 로직 내장 자체 테스트에 관한 연구

이정민 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2006 .08

RF Front End의 결함 검출을 위한 새로운 온 칩 RF BIST 구조 및 회로 설계

류지열 ,  노석호

한국정보통신학회논문지

2004 .04

PRPG를 이용한 고밀도 메모리 BIST 패턴생성기의 설계

박종욱 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1996 .11