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대한전자공학회 전자공학회논문지-TC 전자공학회논문지 TC편 제42권 제6호
발행연도
2005.6
수록면
1 - 8 (8page)

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본 논문에서는 1.8GHz 고주파 수신기 전단부의 결함 검사를 위한 새로운 저가의 BIST 회로(자체내부검사회로) 및 설계기술을 제안한다. 이 기술은 입력 임피던스 매칭 측정 방법을 이용한다. BIST 블록과 고주파 수신기의 전단부는 0.25m CMOS 기술을 이용하여 단일 칩 위에 설계되었다. 이 기술은 측정이 간단하고 비용이 저렴하며, BIST 회로가 차지하는 면적은 고주파 전단부가 차지하는 전체면적의 약 10%에 불과하다.

목차

요 약

Abstract

Ⅰ. Introduction

Ⅱ. Fault-Based RF BIST Approach

Ⅲ. Fault Models and Fault Simulation

Ⅳ. RF Device Under Test

Ⅴ. Test Results

Ⅵ. Conclusions

References

저자소개

참고문헌 (15)

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[학술지(정기간행물)] - / June2003. / Novel Defect Testing of RF Front End Using Input Matching Measurement 9 : 31 ~ 34 google schola [학술지(정기간행물)] - / 1994. / Current and Future Trusting in Automated RF and Microwave Testing : 183 ~ google schola [학술지(정기간행물)] - / March2003. / RF-BIST Loopback Spectral Signature Analysis : 478 ~ 483 google schola [학술지(정기간행물)] - / 2003. / Spectral Signature Analysis-BIST for RF Front-Ends : 155 ~ 160 google schola [학술지(정기간행물)] - / 2003.11 / BiST Model for IC RF-Transceiver Front-End : 295 ~ 302 google schola

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