Crosstalk과 정적 고장을 고려한 효과적인 연결선 테스트 알고리즘 및 BIST 구현

민병우 ,  이현빈 ,  송재훈 외 1명

전자공학회논문지-SD

2005 .07

A New Hardware Efficient Interconnect BIST

Daeyeal Lee ,  Yongjoon Kim ,  Sungho Kang

대한전자공학회 ISOCC

2005 .10

Crosstalk 고장 점검을 위한 효과적인 연결선 테스트 패턴생성 알고리즘에 관한 연구

한주희 ,  송재훈 ,  이현빈 외 2명

전자공학회논문지-SD

2007 .12

An Efficient BIST (Built-in Self-test) for A/D converters

Kicheol Kim ,  Youbean Kim ,  Incheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기

金弘植 ,  李抗圭 ,  姜成昊

전기학회논문지

1998 .07

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02

저전력 BIST를 위한 패턴 사상(寫像) 기법에 관한 연구

김유빈 ,  장재원 ,  손현욱 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .05

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08

A/D 변환기 회로에서 터미네이션 임피던스의 crosstalk에 대한 영향 분석

임한상

전자공학회논문지-SC

2010 .03

효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture )

김홍식 ,  윤도현 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1999 .12

분할 및 병렬 처리 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소

崔炳九 ,  金東郁

전기학회논문지 D

2000 .06

메모리의 고장과 결함 검출 가능한 BIST 회로의 설계

배성환 ,  김관웅 ,  이옥재 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

스캔 분할 기법을 이용한 저전력 Test-Per-Scan BIST

문정욱 ,  손윤식 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

1.8GHz 고주파 전단부의 결함 검사를 위한 새로운 BIST 회로

류지열 ,  노석호

전자공학회논문지-TC

2005 .06

P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법

강동호 ,  박재석 ,  김일웅 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트

김지환 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .06

메모리의 고장과 결함 검출 가능한 BIST 회로의 설계 ( A Design of Fault and Defectable BIST Circuit for Memories )

배성환 ,  김관웅 ,  이옥재 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

반도체 메모리의 Built-In Self Test ( BIST )

조상복

전자공학회지

1992 .05

연상 메모리를 위한 BIST 회로 설계에 관한 연구 ( A Study on design BIST Circuit for Content Addressable Memory )

정장원 ,  이주석 ,  고학림 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

1996 .01

An Efficient BIST Architecture for Boards with Multiple Scan Chains

Yong Tae Yim ,  Hyun Jin Kim ,  Sung Ho Kang

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01