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논문 기본 정보

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저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제43권 제10호
발행연도
2006.10
수록면
104 - 110 (7page)

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오늘날 시스템 온 칩 테스트에 있어서 많은 양의 테스트 데이터, 시간 및 전력 소모는 매우 중요한 문제이다. 이러한 문제들을 해결하기 위해서 본 논문은 새로운 테스트 데이터 압축 기술을 제안한다. 우선, 테스트 큐브 집합에 있는 돈 캐어 비트에 저전력 테스트를 위한 비트할당을 한다. 그리고, 비트할당이 된 저전력 테스트 데이터의 압축효율을 높이기 위해 이웃 비트 배타적 논리합 변환을 사용하여 변환한다. 최종적으로, 변환된 테스트 데이터는 효과적으로 압축 됨으로써 테스트 장비의 저장공간과 테스트 데이터 인가시간을 줄일 수 있게 된다.
#test data compression #low power #scan test #soc test

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론
참고문헌
저자소개

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