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저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제39권 제9호
발행연도
2002.9
수록면
45 - 54 (10page)

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본 논문에서는 SOC의 내장된 코어를 테스트하기 위한 새로운 DFT 방법인 순차적 테스트 데이터 압축 방법을 제안한다. 순차적 테스트 데이터 압축 방법은 테스트 데이터양을 줄이기 위하여 공유 비트 압축과 고장 무검출 패턴 압축 방법을 이용하였다. 그리고 순차적 테스트 데이터 압축 방법을 이용하는 회로는 스캔 DFT 방법을 기반으로 하고 있으며, test-per-clock 방법을 적용하여 매 클럭마다 테스트 할 수 있는 구조를 가지고 있다. 제안된 압축 방법의 실험을 위하여 벤치마크 회로인 ISCASS85와 ISCASS89 완전 스캔 버전을 이용하였으며, ATPG와 고장 시뮬레이션을 위하여 ATALANTA를 사용하였다. 실험 결과 순차적 테스트 데이터 압축 방법의 테스트 데이터의 양이 스캔 DFT를 적용한 회로에 비해 최대 98% 까지 줄어듦을 확인하였다.

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