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자료유형
학술대회자료
저자정보
이주환 (연세대학교) 강성호 (연세대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2008년도 SOC 학술대회
발행연도
2008.5
수록면
351 - 354 (4page)

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VLSI 회로의 복잡도가 나날이 증가함에 따라 적기출시를 위한 고속 고장 진단의 필요성이 커지고 있다. 고장 진단의 실행 시간을 줄이기 위하여 이중 고장 목록의 사용을 제안한다. ISCAS85 및 ISCAS89 벤치마크 회로를 이용한 실험 결과에 따르면, 제안한 방법은 효율적인 메모리 사용과 함께 실행 시간을 평균적으로 18.5% 단축시킨다.
#fault diagnosis #fault simulation #dual fault list #candidate fault #matching algorithm

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 이중 고장 목록
Ⅲ. 이중 고장 목록을 이용한 고장 진단
Ⅳ. 실험
Ⅴ. 결론
References

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