메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류
인문학
인문학 일반 역사학 철학 종교학 어문학 기타 인문학
사회과학
사회과학 일반 경영학 관광학 교육학 군사학 문헌정보학 법학 사회학 신문방송학 심리과학 정치외교학 지리학 행정학 경제학 무역학 인류학 기타 사회과학
자연과학
자연과학 일반 물리학 생물학 생활과학 수학·통계학 천문학 지구과학 화학 기타 자연과학
공학
공학 일반 건축공학 기계공학 산업공학 재료·에너지공학 전기전자공학 조선해양공학 화학공학 컴퓨터학 기타공학
의약학
의학 일반 간호학 수의학 약학 한의학 기초의학 임상의학 기타 의약학
농수해양학
농수해양학 일반 농학 수산학 식품과학 임학 축산학 해상운송학 기타 농수해양학
예술체육학
예술 일반 디자인 미술 미용 사진 음악학 의상 체육 공연매체예술 기타 예술체육학
복합학
학제간연구 과학기술학 뇌인지과학 기술정책 기타 복합학

ENG

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제41권 제5호
발행연도
2004.5
수록면
115 - 131 (17page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
이중 포트 메모리의 사용이 증가함에 따라, 이중 포트 메모리의 테스트와 진단이 중요하게 여겨지고 있다. 본 논문에서는 메모리의 테스트 과정에서 고장이 검출되었을 때, 발생한 고장의 종류를 세부적으로 분류할 수 있는 새로운 진단 알고리듬을 제안한다. 본 알고리듬에서는 진단을 위한 패턴뿐만 아니라 테스트 결과를 통하여 얻을 수 있는 정보를 이용하여, 진단 과정의 효율성을 증대하였으며, 이중 포트 메모리에서 발생할 수 있는 다양한 고장에 대하여 진단이 가능하다.

목차

요약

Abstract

1. 서론

2. 고장 모델

3. 알고리듬

4. 테스트 패턴과 고장 딕셔너리

5. 진단 패턴

6. 결과

7. 결론

참고문헌

부록(Appendix)

저자소개

참고문헌 (13)

참고문헌 신청
[학술지(정기간행물)] - S. J. Wang / 2000. / Efficient built-in self-test algorithm for memory : 66 ~ 70 google schola [학술지(정기간행물)] - C. T. Huang / 2000. / A programmable built-in self-test core for embedded memories : 11 ~ 12 google schola [학술지(정기간행물)] - S. Hamdioui / 2000. / March tests for realistic faults in two-port memories : 73 ~ 78 google schola [학술지(정기간행물)] - C. F. Wu / 2001. / Simulation-based test algori thm generation and port scheduling for multi -port memories : 301 ~ 306 google schola [학술지(정기간행물)] - P. Nagaraj, / 2001. / Defect analysis and a new fault model for multi-port SRAMs : 366 ~ 374 google schola

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

다중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬
김지혜 ,  강성호 대한전자공학회 기타 간행물 2001 .11
MLC NAND-형 플래시 메모리를 위한 고장검출 테스트 알고리즘
장기웅 ,  황필주 ,  장훈 전자공학회논문지-SD 2012 .04
이중 고장 목록을 이용한 고속 고장 진단 방법
이주환 ,  강성호 대한전자공학회 학술대회 2008 .05
고집적 메모리를 위한 효율적인 고장 진단 알고리듬
朴漢源 ,  姜成昊 전기학회논문지 D 2001 .04

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-014001082