이중 포트 메모리의 실제적인 고장을 고려한 효율적인 테스트 알고리즘

박영규 ,  양명훈 ,  김용준 외 2명

전자공학회논문지-SD

2007 .02

이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트와 진단 알고리듬

김지혜 ,  김홍식 ,  김상욱 외 4명

전자공학회논문지-SD

2004 .05

이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬

김지혜 ,  송동섭 ,  배상민 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .01

내장된 이중 - 포트 메모리의 효율적인 테스트 방법에 관한 연구

정남규 ,  한재천 ,  장훈

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬

박한원 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .03

내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트

홍원기 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .12

내장된 이중-포트 메모리의 효율적인 테스트 방법에 관한 연구 ( A Study on Efficient Test Methodologies on Dual-port Embedded Memories )

한재천 ,  양선웅 ,  진명구 외 1명

전자공학회논문지-C

1999 .08

이중 포트 메모리를 위한 효율적인 프로그램 가능한 메모리 BIST

박영규 ,  한태우 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2012 .08

내장된 메모리를 위한 메모리 테스트 알고리듬의 설계 및 구현

박강민 ,  최인여 ,  양선웅 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .04

테스트 용이화를 위한 임베디드 DRAM 내 SRAM의 병열 구조

국인성 ,  이재민

한국정보전자통신기술학회 논문지

2010 .09

내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트와 플래시 메모리를 이용한 자가 복구 기술

홍원기 ,  최정대 ,  심은성 외 1명

전자공학회논문지-SD

2008 .02

IEEE 1149.1을 이용한 March 알고리듬의 내장형 자체 테스트 구현

양선웅 ,  박재흥 ,  장훈

정보과학회논문지 : 컴퓨팅의 실제 및 레터

2001 .02

독립고장과 양립 가능한 고장을 이용한 효율적인 테스트 패턴 압축 기법 ( An Efficient Algorithm for Test Pattern Compaction using Independent Faults and Compatible Faults )

윤도현 ,  강성호 ,  민형복

전자공학회논문지-SD

2001 .02

고속 고장 진단을 위해 고장 후보 정렬과 테스트 패턴 정렬을 이용한 고장 탈락 방법

이주환 ,  임요섭 ,  김홍식 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .03

이웃 패턴 감응 고장을 위한 효과적인 메모리 테스트 알고리듬

서일석 ,  강용석 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .11

A New Test Algorithm for Bit-Line Sensitive Faults in High-Density Memories

Kang ,  Dong-Chual ,  Cho 외 1명

전기전자학회논문지

2001 .07

순차 회로를 위한 효율적인 혼합 고장 진단 알고리듬

김지혜 ,  이주환 ,  강성호 외 2명

전자공학회논문지-SD

2004 .05

고집적 메모리에서 Word-Line과 Bit-Line에 민감한 고장을 위한 테스트 알고리즘

강동철 ,  양명국 ,  조상복

전자공학회논문지-SD

2003 .04

내장된 자체 테스트에서 경로 지연 고장 테스트를 위한 새로운 가중치 계산 알고리듬 ( New Weight Generation Algorithm for Path Delay Fault Test Using BIST )

허윤 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2000 .06

단일 정현파 신호를 이용한 CMOS 연산 중폭기의 새로운 테스트 기법

한석봉 ,  윤원효 ,  김윤도 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1998 .10