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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2011.12
- 수록면
- 31 - 36 (6page)
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본 논문은 0.13㎛ CMOS 공정에서 적층출력드라이버 ESD 내성에 대하여 조사 하였다. 실제적인 I/O 시스템과 유사하게 프리-드라이버와 파워 클램프를 포함한 적층출력드라이버 회로를 구현하였다. 프리-드라이버 입력 연결 방법과 적층출력드라이버의 NMOS 크기에 따라 8가지 회로를 구성하였으며, TLP 실험을 통해서 HBM 내성을 조사하였다. 그 결과 프리-드라이버의 입력에 전원전압을 인가하고 적층출력드라이버는 가급적 유사한 크기로 진행한 조건이 다른 조건들 보다 높은 항복전류와 항복전압을 보여주었다. 이 테스트 결과를 토대로, 적층출력드라이버의 ESD 내성을 향상시킬 수 있는 설계 가이드를 제안하였다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 테스트 회로 구현
Ⅲ. 실험 결과
Ⅳ. ESD 불량 발생 위치
Ⅴ. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (11)
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1. [단행본] - O. Semenov / 2008 / ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies / Springer
2. [학술대회논문] - W. R. Anderson / 1998 / ESD protection for mixed-voltage I/O using NMOS transistors stacked in a cascode configuration / Proc. of EOS/ESD Symposium : 54 ~ 62
3. [학술대회논문] - J. W. Miller / 2000 / Engineering the cascaded NMOS Output buffer for maximum Vt1 / Proc. of EOS/ESD Symposium : 308 ~ 317
4. [학술대회논문] - S. Voldman / 1996 / Linewidth Control Effects on MOSFET ESD Robustness / Proc. of EOS/ESD Symposium : 101 ~ 109
5. [학술대회논문] - K. Chatty / 2008 / Investigation of ESD performance of silicide-blocked stacked NMOSFETs in a 45nm bulk CMOS technology / Proc. of EOS/ESD Symposium : 304 ~ 312
2. [학술대회논문] - W. R. Anderson / 1998 / ESD protection for mixed-voltage I/O using NMOS transistors stacked in a cascode configuration / Proc. of EOS/ESD Symposium : 54 ~ 62
3. [학술대회논문] - J. W. Miller / 2000 / Engineering the cascaded NMOS Output buffer for maximum Vt1 / Proc. of EOS/ESD Symposium : 308 ~ 317
4. [학술대회논문] - S. Voldman / 1996 / Linewidth Control Effects on MOSFET ESD Robustness / Proc. of EOS/ESD Symposium : 101 ~ 109
5. [학술대회논문] - K. Chatty / 2008 / Investigation of ESD performance of silicide-blocked stacked NMOSFETs in a 45nm bulk CMOS technology / Proc. of EOS/ESD Symposium : 304 ~ 312
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