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저자정보
Rakhi Narang (University of Delhi) Manoj Saxena (University of Delhi) R. S. Gupta (Maharaja Agrasen Institute of Technology) Mridula Gupta (University of Delhi)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.13 No.3
발행연도
2013.6
수록면
224 - 236 (13page)

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This work presents a comparative study of four Double Gate tunnel FET (DG-TFET) architectures: conventional p-i-n DG-TFET, p-n-p-n DG-TFET, a gate dielectric engineered Heterogate (HG) p-i-n DG-TFET and a new device architecture with the merits of both Hetero Gate and p-n-p-n, i.e. HG p-n-p-n DG-TFET. It has been shown that, the problem of high gate capacitance along with low ON current for a p-i-n TFET, which severely hampers the circuit performance of TFET can be overcome by using a p-n-p-n TFET with a dielectric engineered Hetero-gate architecture (i.e. HG p-n-p-n). P-n-p-n architecture improves the ON current and the heterogeneous dielectric helps in reducing the gate capacitance and suppressing the ambipolar behavior. Moreover, the HG architecture does not degrade the output characteristics, unlike the gate drain underlap architecture, and effectively reduces the gate capacitance.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. SIMULATION AND CALIBRATION
Ⅲ. DC PERFORMANCE COMPARISON
Ⅳ. DYNAMIC PERFORMANCE COMPARISON
Ⅴ. CIRCUIT LEVEL PERFORMANCE COMPARISON
Ⅵ. CONCLUSIONS
REFERENCES

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