CMOS 회로의 결함검출을 위한 BIC 설계

이효상 ,  류진수 ,  서정훈 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

고집적 메모리의 고장 및 결함 위치검출 가능한 BIST / BICS 회로의 설계 ( A Design of BIST / BICS Circuits for Detection of Fault and Defect and Their Locations in VLSI Memories )

김대익 ,  배성환 ,  전병실

한국통신학회논문지

1997 .10

설계경기-전북대학교 BIC도서관

대한건축사협회

건축사

2007 .01

실시간 선재(BIC) 흠 탐상 시스템 개발

서보열 ,  윤종필 ,  김연탁 외 3명

제어로봇시스템학회 국내학술대회 논문집

2007 .05

Elements of CMOS VLSI System Design

Sung Mo Kang

대한전자공학회 워크샵

1985 .01

패킷 리오더링 해결을 위한 개선된 BIC

김남욱 ,  김동호 ,  박민우 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2008 .11

CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

CMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘 ( A New Test Generation Algorithm for Detection of Faults in CMOS Circuits )

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

세선화 및 템플릿 정합 기반 컨테이너 BIC-code 인식 방법

정나라 ,  송재욱 ,  강현수

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

CMOS VLSI 회로에서 논리추출을 위한 효율적인 알고리즘 ( An Efficient Logic Extraction Algorithm for CMOS VLSI Circuits )

정자춘 ,  강민섭 ,  이철동 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1988 .01

다중 이진화를 이용한 컨테이너 BIC 부호 영역 추출 및 인식 방법

송재욱 ,  정나라 ,  강현수

한국정보통신학회논문지

2015 .06

HBIC와 BIC_Anti 기준을 이용한 HMM 구조의 최적화

박미나 ,  하진영

정보과학회논문지 : 소프트웨어 및 응용

2003 .10

Development of Real-time Defect Detection Algorithm for High-speed Steel Bar in Coil(BIC)

Jong Pil Yun ,  YoungSu Pa ,  k 외 2명

제어로봇시스템학회 국제학술대회 논문집

2006 .10

MIMO BIC-OFDM 환경에서 강화 학습을 이용한 적응형 전송에 관한 연구

오명석 ,  김기범 ,  박현철

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .06

전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS 회로의 고장 검출 및 위치 결정

이재웅 ,  안철희 ,  이광훈 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS회로의 고장 검출 및 위치 결정 ( Fault Detection and Location of CMOS circuits using Current Testing Techniques )

이재웅 ,  안철회 ,  이광훈 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

CMOS 기술을 이용한 신경회로망의 VLSI 구현 ( VLSI Implementation of Neural Networks Using CMOS Technology )

정호선

전자공학회논문지

1990 .03

CMOS를 이용한 연산증폭기의 회로 해석 및 설계 ( A Study on the Analysis and Design of Operation Application by Using CMOS )

강희조 ,  이주환 ,  김길상 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1987 .07

AIC와 BIC를 이용한 인공신경망 유출 모형의 최적 연결강도 수 결정

박성천 ,  정천리 ,  진영훈

대한토목학회 학술대회

2004 .10

CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )

정준모 ,  장원학 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1988 .11