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Test 용이성을 고려한 LSI/VLSI 논리설계방식과 Programmable Logic Array에의 응용 ( A LSI/VLSI Logic Design Structure for Testability and its Application to Programmable Logic Array Design )
전자공학회지
1984 .05
LSI/VLSI 설계 자동화
전자공학회잡지
1981 .12
Programmable Storage/Logic Array에 대한 보편적인 Test Set ( Universal Test Sets for Programmable Storage/Logic Arrays )
전자공학회지
1985 .01
PLA 설계용 논리 최소화 알고리즘 ( Fast Logic Minimization Algorithm for Programmable Logic Array Design )
대한전자공학회 학술대회
1983 .01
PLA 설계를 위한 논리함수 최소화 기법 ( A Logic Function Minimization Technique for programmable Logic Array Design )
대한전자공학회 학술대회
1985 .01
PLA 설계용 고속 논리최소화 알고리즘 ( Fast Logic Minimization Algorithm for Programmable-Logic-Array Design )
전자공학회지
1985 .03
집적회로(LSI/VLSI)-초LSI의 최근 기술 동향
전자진흥
1983 .01
Built-In Test 방식을 이용한 Programmable Logic Array의 Testable Design ( Programmable Logic Array Testable Design Using Built-In Test Technique )
대한전자공학회 학술대회
1984 .01
Design of Programmable Logic Controller and I/O Expansions
제어로봇시스템학회 국제학술대회 논문집
2005 .06
테스트 패턴 생성이 용이한 VLSI 논리 설계 방식 ( A VLSI Logic Design Structure for Reduction of Test pattern Generation Effort )
대한전자공학회 학술대회
1985 .01
入出力Pair Folding에 의한 Programmable Logic Array의 高密度化
대한전자공학회 학술대회
1983 .11
Built-In Test 方式을 利用한 LSI/VLSI Testable Design
대한전자공학회 학술대회
1983 .11
LSI/VLSI의 의사-전체검사를 위한 Fault Simulator 개발에 관한 연구 ( A Study on the Development of Fault Simulator for the Pseudo-exhaustive Test of LSI/VLSI )
전자공학회논문지-B
1995 .04
E / D MOS 논리 LSI의 지연시간 모델링 ( Delay Time Modeling for E / D MOS Logic LSI )
대한전자공학회 학술대회
1987 .07
하이브리드 데이타 모델을 이용한 LSI/VLSI CAD 데이타 베이스
대한전자공학회 학술대회
1986 .06
E/D MOS 논리 LSI의 지연시간 모델링
대한전기학회 학술대회 논문집
1987 .07
하이브리드 데이터 모델을 이용한 LSI / VLSI CAD 데이터 베이스 ( LSI / VLSI CAD Database Using the Hybrid Data Medel )
대한전자공학회 학술대회
1986 .01
LSI Test Program
대한전자공학회 단기강좌
1983 .01
遲延故障 test를 考慮한 Programmable Logic Array의 設計
대한전자공학회 학술대회
1983 .11
VLSI 기술언어 시스템상에서의 논리회로 시뮬레이터 설계 ( Design of a Logic Simulation on VLSI Description Language Systems )
대한전자공학회 학술대회
1992 .11
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