One-dimensional Atomic Structures on the In/Si(335) Surface : Scanning Tunneling Microscopy Study

J. H. Nam ,  I. K. Song ,  M.K. Kim 외 4명

한국표면공학회 학술발표회 초록집

2008 .06

새로운 시료 접근방식을 사용한 Scanning Tunneling Microscope ( STM ) 의 제작 ( Construction of Stm with a new Type translator )

박갑석 ,  정관수 ,  박찬

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

Scanning Tunneling Microscopy (STM)/Atomic Force Microscopy (AFM) Studies of Silicon Surfaces Treated in Alkaline Solutions of Interest to Semiconductor Processing

Jin Goo Pa ,  k

한국표면공학회지

1995 .02

Scanning Tunneling Microscopy (STM)/Atomic Force Microscopy (AFM) Studies of Silicon Surfaces Treated in Alkaline Solutions of Interest to Semiconductor Processing

Jin-Goo Pa ,  k

한국표면공학회 학술발표회 초록집

1994 .10

Current Status and Future of Electron Beam Lithography

백기호 ,  김영식

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

E-Beam Lithography 기술

손상희 ,  곽계달

전자공학회잡지

1984 .10

A New Simulation Model of Electron Beam Lithography for Manufacturing

함영목 ,  이원규 ,  김수환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

STM 장치의 제작 ( Fabrication of STM System )

강태원 ,  최성은 ,  박찬

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

E-beam Lithography ( Equipment )

박선우

대한전자공학회 워크샵

1989 .01

Electron-Beam Lithography를 사용한 Sub-0.1㎛ T-Gate 제작에 관한 연구 ( Sub-0.1㎛ T-Gate Fabrication for Monolithic Microwave Integrated Circuits by Electron-Beam Lithography )

이수용 ,  신두식 ,  오재응 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1993 .01

Scanning Tunneling Microscope의 제작 및 연구

박정호 ,  김동식 ,  정회환 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

Scanning Tunneling Microscope의 제작 및 연구 ( A Study and Fabrication on Scanning Tunneling Microscope )

박정호 ,  김동식 ,  정회환 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

나노사출성형용 스탬퍼 제작을 위한 Electron beam lithography 패터닝 연구

엄상진 ,  서영호 ,  유영은 외 3명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2005 .10

ACE2000 MPLS 시스템에서의 STM-1/STM-4C급 트래픽 성능시험 분석

김광옥 ,  최창식 ,  박대근 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2001 .11

전자빔을 이용한 중금속이온 (Cr⁺⁶) 의 제거

권기식 ,  이홍승 ,  김병남 외 4명

대한환경공학회 학술발표논문집

1999 .04

Electron-Beam Lithograph를 이용한 Pattern 형성에 관한 연구 ( The Study of Pattern Formation Using Electron-Beam Lithography )

김학 ,  강호영 ,  이중현 외 1명

대한전자공학회 워크샵

1991 .01

Reliable and High Spatial Resolution Method to Identify the Number of MoS₂ Layers Using a Scanning Electron Microscopy

Sha ,  bid ,  e 외 20명

한국재료학회지

2017 .01

신뢰성 향상을 위한 3-order STM 시험검사법 설계

육선우 ,  황인호 ,  정진석 외 1명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2010 .11