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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
임태우 (한국과학기술원) 양동열 (한국과학기술원)
저널정보
Korean Society for Precision Engineering Journal of the Korean Society for Precision Engineering Journal of the Korean Society for Precision Engineering Vol.32 No.10
발행연도
2015.10
수록면
911 - 916 (6page)

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In the nano/micro scale, material properties are dependent on the size-scale of a structure. However, conventional micro-scale tensile tests have limitations to obtain reliable values of nanoscale material properties owing to residual stress and elastic slippage in the gripping/aligning process. The indenter-driven nano-scale tensile test provides prominent advantages simple testing device, high-quality nano-scale metallic specimen with negligible residual stress. In this paper, two-types of specimens (a specimen with multi-testing parts and a specimen with a singletesting part) are discussed. Focused ion beam (FIB) is employed to fabricate a nano-scale specimen from a thin nickel film. Using the specimen with a single-testing part, we obtained a nano-scale stress-strain curve of electroplated nickel film.

목차

1. 서론
2. 압축 시험기를 이용한 인장 시험법
3. 압축 시험기용 인장시편 설계 및 제작
4. 나노 인장시험
5. 결론
REFERENCES

참고문헌 (15)

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