IEEE 1149.1의 실시간 신호 시험 구조 설계

김정홍; 장영식; 김재수

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자료유형: 학술저널

저자정보: 김정홍 장영식 김재수

저널정보: 한국컴퓨터정보학회 한국컴퓨터정보학회논문지 한국컴퓨터정보학회 논문지 제15권 제1호

발행연도: 2010.1

수록면: 13 - 21 (9page)

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보드에 장착된 소자들을 테스트하기위해 제안된 IEEE 1149.1 시험 구조는 입력으로 TDI 핀을 사용하고 출력으로 TDO 핀을 사용하는 커다란 직렬 쉬프트 레지스터이다. IEEE 1149.1은 보드 수준에서의 테스트는 완벽하게 수행하지만 보드가 시스템에 장착되고 난 후의 수행 중인 시스템 수준에서의 실시간 동작클럭 속도로의 테스트에는 문제가 있다. 즉시험대상 핀의 실시간 동작신호를 시험하기 위하여 직렬 시프트 레지스트 체인들의 출력속도를 동작 클럭의 쉬프트레지스터 배수 이상의 속도로 작동 하여야 한다. 본 논문에서는 시스템 클럭과 동일한 속도로 실시간 신호를 캡쳐하기 위한 실시간 신호 시험 구조를 설계하고 시험 절차를 제안하였다. 제안한 실시간 신호 시험 구조를 Altera의 Max+Plus 10.0을 사용하여 제안한 시험 절차에 따라 시뮬레이션을 수행하였으며, 이를 통해 제안한 시험구조가 정확히 동작함을 확인하였다.

#Run-time test #IEEE 1149 #1 #Boundary Scan Register #Test Access Port

참고문헌 (15)

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1. [학술지(정기간행물)] - 박희동 / 2003 / 디지털 회로 디버깅을 위한 IEEE 1149 JTAG 및 Enhanced JTAG 기술 / 한국멀티미디어학회 7 (3) : 12 ~ 23

2. [인터넷자원] - / / IEEE Computer Society Home Page

3. [학술대회논문] - M.Williams / 1973 / Enhancing Testability of Large-Scale Integrated Circuits via test points and Additional logic / IEEE Transaction on Computers : 46 ~ 60

4. [학술지(정기간행물)] - 장영식 / 2009 / 경계면스캔에서의 연속캡쳐 시험구조 개발 / 정보처리학회논문지A 16 (2) : 79 ~ 88

5. [학술대회논문] - M.El-Mahlawy / 2003 / Design and implementation of an new Built-In Self-Test boundary scan architecture / Microelectronics 2003 : 27 ~ 31

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