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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김진욱 (충남대학교) 고윤호 (충남대학교) 이시웅 (한밭대학교)
저널정보
한국콘텐츠학회 한국콘텐츠학회논문지 한국콘텐츠학회논문지 제16권 제7호
발행연도
2016.7
수록면
689 - 699 (11page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2016

LCD 결함 검출 성능 개선을 위한 대표점 기반의 영역 탐색을 이용한 적응적 이진화 기법
김진욱 ,  고윤호 ,  이시웅 한국콘텐츠학회논문지 2016.07 학술저널

2014

LCD 결함 검출 성능 개선을 위한 패턴 기반의 적응적 이진화 기법
김진욱 메카트로닉스공학과 2014.01 학위논문

초록· 키워드

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LCD 수요 증가에 따라 LCD 생산 효율성 개선을 위한 검사장비의 중요성이 지속적으로 부각되고 있다. 패턴 검사기는 라인 스캔 카메라와 같은 광학 장비를 통해 미세한 패턴 결함을 빠른 속도로 검출하는 장비이다. 이러한 패턴 검사기는 실시간 검사를 위해 패턴 내에서 단일 기준값을 사용하여 픽셀 단위의 결함여부를 판단하고 있다. 하지만 패턴 내 각 영역별 특징을 반영하여 서로 다른 기준값을 적용하는 적응적 이진화를 이용하는 경우 결함 검출 성능을 크게 향상시킬 수 있다. 이러한 적응적 이진화를 적용하기 위해서는 특정 검사 대상 픽셀이 어떠한 영역에 속하는지에 대한 정보를 필요로 한다. 이를 위해 본 논문에서는 각각의 검사 대상 픽셀이 어떠한 영역에 속하는지를 판단하는 영역 매칭 알고리즘을 제안한다. 제안된 알고리즘은 머신 비전의 실시간성을 고려한 패턴 정합에 기반을 둔 알고리즘으로 실제 시스템에 적용될 수 있도록 GPGPU를 이용하여 구현된다. 모의실험을 통해 제안된 방법이 실제 시스템이 요구하는 처리 속도를 만족시킬 수 있을 뿐만 아니라 결함 검출의 성능을 개선할 수 있음을 보인다.
#LCD 패널 #영상처리 #LCD 결함검출 #패턴정합 #적응적 이진화 #LCD Panel #Image Processing #LCD Defect Detection #Pattern Matching #Adaptive Thresholding

목차

요약
Abstract
I. 서론
II. 기존 결함 검출 알고리즘
III. 제안하는 결함 검출 알고리즘
VI. 실험 및 성능 분석
V. 결론
참고문헌

참고문헌 (12)

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