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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
박창섭 (삼성전자) 김찬오 (서울과학기술대학교)
저널정보
대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제67권 제3호
발행연도
2018.3
수록면
474 - 478 (5page)

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The use of metals such as aluminum and titanium and the related industrial facilities have been continuously increasing to meet the requirements of the improvement of high-tech products due to the development of industry, and explosion of metal dust. Semiconductor process Metal dust is essential, but research is insufficient. The purpose of this study is to identify risk by analyzing the quantitative risk such as maximum explosion pressure and minimum explosion concentration applied international test standard in order to select the semiconductor process facilities handling dust and to predict possible risk of accidents.

목차

Abstract
1. 서론
2. 반도체 공정 설비의 분진 위험성
3. 연구방법
4. 연구결과
5. 고찰 및 결론
References

참고문헌 (18)

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