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학술저널
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저널정보
한국원자력학회 Nuclear Engineering and Technology Nuclear Engineering and Technology 제50권 제3호
발행연도
2018.1
수록면
432 - 438 (7page)

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The occurrence of saturation in the CR-39 detector reduces and limits its detection dynamic range;nevertheless, this range could be extended using spectroscopic techniques and by measuring the netbulk rate of the saturated CR-39 detector surface. CR-39 detectors were irradiated by 1.5 MeV high alphaparticlefluence varying from 0.06 108 to 7.36 108 alphas/cm2 from Am-241 source; thereafter, theywere etched in a 6.25N NaOH solution at a temperature of 70 C for different durations. Net bulk etch ratemeasurement of the 1.5 MeV alpha-irradiated CR-39 detector surface revealed that rate increases withincreasing etching time and reaches its maximum value at the end of the alpha-particle range. It is alsocorrelated with the alpha-particle fluence. The measurements of UVeVisible (UVeVis) absorbance at 500and 600 nm reveal that the absorbance is linearly correlated with the fluence of alpha particles at theetching times of 2 and 4 hour. For extended etching times of 6, 10, and 14.5 hour, the absorbance issaturated for fluence values of 4.05 108, 5.30 108, and 7.36 108 alphas/cm2. These new methodspave the way to extend the dynamic range of polymer-based solid state nuclear track detectors (SSNTDs)in measurement of high fluence of heavy ions as well as in radiation dosimetry.

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