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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2005.1
- 수록면
- 259 - 263 (5page)
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The changes in secondary electron emission coefficient() and work function() have been studied on the surface of MgO protective layer after plasma(Ar, O2) treatment using -focused ion beam (-FIB) system. The values of varied as follows: O2-treated MgO > Ar-treated MgO > Non-treated MgO, and the work functions varied in the reverse order. The result indicates that both the physical etching and the chemical reaction of O2-plasma removed the contaminating materials from the surface of MgO.
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/ 1954. / Theory of auger ejection of electrons from metals by ions 96 : 336 ~
/ 1976. / Protecting layer for the dielectric in AC plasma panels 23 : 313 ~
/ 1977. / Influence of secondary-electron emission from MgO surfaces on voltage-breakdown curves in Penning mixtures for insulated- electrode discharges 48 : 4754 ~
/ 1984. / Surface area and the mechanism of hydroxylation of lonic oxide surfaces 80 : 2609 ~
/ 1988. / Interaction of water with the surface of magnesium oxide 84 : 2421 ~
/ 1976. / Protecting layer for the dielectric in AC plasma panels 23 : 313 ~
/ 1977. / Influence of secondary-electron emission from MgO surfaces on voltage-breakdown curves in Penning mixtures for insulated- electrode discharges 48 : 4754 ~
/ 1984. / Surface area and the mechanism of hydroxylation of lonic oxide surfaces 80 : 2609 ~
/ 1988. / Interaction of water with the surface of magnesium oxide 84 : 2421 ~
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