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초고진공에서 기판 Si(111)-7×7 위에 Ti : Si = 1 : 1 또는 1:2 의 조성비로 Ti와 Si을 동시 증착한 후 in situ 열처리하여 TiSi₂ 박막을 에피택셜 성장시켰다. XRD와 XPS 분석결과 동시증착된 혼합 층에서 C49-TiSi₂ 박막의 성장은 핵형성에 의함을 확인하였으며, 양질의 C49-TiSi₂ 박막은 Ti를 증착한 후 Ti와 Si를 동시 증착한 (Ti+2Si)/(Ti)/Si(111)-7×7 구조의 시료를 초고진공에서 500℃에서 열처리하여 얻을 수 있었다. 형성된 C49-TiSi₂/Si(111)의 계면은 깨끝하였고, HRTEM 분석 결과 C49-TiSi₂/Si(111)의 계면은 약 10℃의 편의를 가지면서 TiSi₂[211]││Si[110], TiSi₂(031)││Si(111)의 정합성을 가졌으며, 시료의 전 영역에 에피택셜 성장되었다.

목차

요약

Abstract

1. 서론

2. 실험 방법

3. 결과 및 논의

4. 결론

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2019-420-001261753