Increase the reliability of the gate driver for amorphous TFT displays

Wu, Bo-Cang; Shiau, Miin-Shyue; Wu, Hong-Chong; Liu, Don-Gey

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저자정보: Wu, Bo-Cang (Dept. of Electronic Engineering of Feng Chia University) Shiau, Miin-Shyue (Dept. of Electronic Engineering of Feng Chia University) Wu, Hong-Chong (Dept. of Electronic Engineering of Feng Chia University) Liu, Don-Gey (Dept. of Electronic Engineering of Feng Chia University)

저널정보: 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2008년도 International Meeting on Information Display

발행연도: 2008.1

수록면: 1,301 - 1,304 (4page)

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In this study, we used a multiple phase scheme for the clock in the dual-pull-down driver for TFT display panels. In this scheme, the turn-on time for the transistors in the dual-pull-down structure was reduced from 1/2 to 1/4 or 1/8 of the period cycle time. While keeping proper operation of the transistor size of circuit was fine tuned to achieve an optimal performance. The relation between the active time and the transistor dimensions was obtained for the optimal design.

#Gate driver #Stress effect #Reliability

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Wu, Bo-Cang

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주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

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Shiau, Miin-Shyue

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Liu, Don-Gey

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