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자료유형
학술저널
저자정보
황장환 (홍익대학교 화학공학과) 권오관 (홍익대학교 화학공학과) 김영관 (홍익대학교 화학공학과) 손병청 (홍익대학교 화학공학과)
저널정보
한국유화학회 한국유화학회지 한국응용과학기술학회지 제15권 제1호
발행연도
1998.1
수록면
91 - 97 (7page)

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Thin films of $Eu(TTA)_3(phen)$, which was known to show red-light emitting properties, were deposited under various deposition condition. The thickness, surface morphology, and photoluminescence(PL) were measured with ${\alpha}$-step profiler, Atomic Force Microscopy(AFM), and PL measurement apparatus. It was found that the thickness of $Eu(TTA)_3(phen)$ film can be controlled precisely by adjusting the amounts of $Eu(TTA)_3(phen)$ in the boat. As the thickness of these films increases, the surface roughness also increases. A structure of $Al/Eu(TTA)_3(phen)(850{\AA})/TPD(600{\AA})/ITO$ was fabricated, Electroluminescence(EL) spectrum of which shows the peak at the wavelength of 618nm.

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