총이온화선량 효과에 내성을 갖는 CMOS NOR 게이트 설계 및 검증

이민웅 ,  이남호 ,  김종열 외 4명

정보 및 제어 논문집

2021 .10

CMOS IC기반 Instrumentation Amplifier 설계 및 누적방사선 영향 분석

이민웅 ,  김종열 ,  이남호 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2019 .06

정지궤도 공공복합통신위성 3호 탑재체의 총 이온화 방사선량(TID) 분석

조성민 ,  최장섭 ,  정철오 외 3명

한국항공우주학회 학술발표회 초록집

2023 .06

우주방사선 환경에서의 12bit 범용 ADC모듈 TID시험

이관훈 ,  김철희 ,  황순미 외 1명

한국신뢰성학회 학술대회논문집

2023 .11

내방사선 원전센서 공통 신호처리 모듈 설계

이남호 ,  황영관 ,  김종열 외 1명

한국정보통신학회논문지

2015 .06

I 형 게이트 내방사선 n-MOSFET 구조 설계 및 특성분석

이민웅 ,  조성익 ,  이남호 외 2명

한국정보통신학회논문지

2016 .10

TID 효과에 의한 P-MOSFET의 열저항 수치 해석 연구

최나연 ,  장성욱

한국항공우주학회 학술발표회 초록집

2023 .06

CMOS 이미지 센서를 사용한 방사선 측정에 관한 연구

이주현 ,  이승호

전기전자학회논문지

2015 .06

CMOS 집적회로의 펄스방사선 영향

정상훈 ,  이민웅 ,  이남호

대한전기학회 학술대회 논문집

2017 .07

차세대중형위성 5호 임무기간 우주방사선 환경 분석

이준호 ,  고성만 ,  허건 외 6명

항공우주시스템공학회 학술행사 논문집

2024 .10

총 이온화 선량 시험에 대한 P 채널 MOSFET의 전기적 특성 변화 연구

최나연 ,  장성욱

한국기계가공학회 춘추계학술대회 논문집

2022 .04

Implementation of a Radiation-hardened I-gate n-MOSFET and Analysis of its TID(Total Ionizing Dose) Effects

Min-Woong Lee ,  Nam-Ho Lee ,  Sang-Hun Jeong 외 2명

Journal of Electrical Engineering & Technology

2017 .07

방사선 환경에서 사용되는 원격취급장치의 내방사선 요건분석

정윤목 ,  김성현 ,  박병석 외 2명

한국방사성폐기물학회 학술대회

2016 .01

방사선 - 소통을 위한 방사선 위험의 비교 방법

김수근

원자력산업

2017 .01

SiC MOSFET TID (Total Ionizing Dose) effects 분석

김채윤 ,  전국화 ,  윤효원 외 5명

한국기계가공학회 춘추계학술대회 논문집

2023 .04

COTS MOSFET의 unbias TID 방사선 평가

정재성 ,  노영환 ,  최중호

대한전자공학회 학술대회

2015 .06

정지궤도 우주 임무용 위성 전장품의 TID 및 Internal Charging 영향 분석과 차폐설계

조영준 ,  윤희광

한국항공우주학회 학술발표회 초록집

2023 .11

Total Ionizing Dose effect에 따른 Inverter 회로의 동작특성 분석

원현재 ,  함일식 ,  강명곤

대한전자공학회 학술대회

2019 .11

TID Effect에 따른 FinFET 소자의 특성 분석

원현재 ,  강명곤

대한전자공학회 학술대회

2019 .06

누적방사선 환경용 로직기반 펄스방사선 탐지회로 구현 및 검증

이민웅 ,  이남호 ,  김종열 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2020 .07