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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이찬주 (신한대학교) 장동희 (한국폴리텍대학)
저널정보
융복합지식학회 융복합지식학회논문지 융복합지식학회논문지 제11권 제3호
발행연도
2023.9
수록면
1 - 12 (12page)

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본 연구에서는 RFBL(RF Biased Lifetime) 테스트용 장비 개발을 위한 SSPA(Solid-State Power Amplifier)의 신뢰성을 예측하였다. 이러한 장비는 8개의 소자를 동시에 측정 가능하며, 동작 주파수 대역은 0.5 ~ 6GHz의 광대역이고, 입력신호를 최소 30dBm을 제공한다. 전력 분배/결합기를 사용하여 3가지 다른 구조를 가정하고, 전력 증폭기는 GaN 소자를 사용하였다. 소비전력으로부터 각 소자의 최대 채널온도를 계산하고, 각각의 고장률 로부터 평균고장시간(MTTF, Mean Time To Failure)을 구하였다. 전체 사용된 소자의 개수를 고려하여 최종 평균고장시간을 구하여 가장 신뢰성이 높은 구조를 선택할 수 있었다. 예측 결과 직렬 연결하는 방식의 신뢰성을 100%라고 가정하면 상대적으로 전력 분배기를 사용하는 두 번째 경우는 26%, 전력 결합기를 사용하는 세 번째 경우는 53%의 수준이었다. 이러한 결과를 바탕으로 신뢰성이 가장 우수한 RFBL 측정 장비를 설계할 예정이다.
#Reliability #SSPA(Solid-State Power Amplifier) #RFBL(RF Biased Lifetime) #MTTF(Mean Time To Failure) #Failure rate

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. SSPA 신뢰성 예측
3. 검토 및 고찰
4. 결론
References

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