Deep Submicron MOSFET에서 저온공정의 Inter-Layer-Dielectric 막이 게이트 산화막의 특성에 미치는 효과 ( Effects of Low Temperature Interlayer Dieletric Films on the Gate Quality of Deep Submicron MOSEFTS )

이상기 ,  황현상 ,  이영종 외 4명

대한전자공학회 워크샵

1997 .01

Numerical Simulation of Hot-Carrier Gate and Injection Current in Deep-Submicron Thin-Film SOI / MOSFET Using Exact Field Distribution

Jain Min Cao ,  Chuan Liang Wu ,  Wen Zheng Shen 외 3명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구 ( A Study of Hot-Carrier Degradation on Submicron Device )

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

서브마이크론 p-MOSFET에서 스트레스로 유기된 핫 캐리어 효과 ( Stress Induced Hot Carrier Effect in Submicron p-MOSFET ` s )

이용재 ,  Dim Lee Kwong

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

Deep Submicron PMOSFET의 Scaling 방법 ( Scaling Methodology of Deep Submicron P-MOSFET )

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Deep submicron PMOSFET의 Scaling 방법

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

A New Analytical Model for Channel Thermal Noise of Deep-submicron RF MOSFETs

Jongwook Jeon ,  Yujo Yun ,  Y.W. Kim 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

Hydrodynamic model을 이용한 Submicron MOSFET의 Simulation ( Simulation of Submicron MOSFET Using Hydrodynamic Model )

김충원 ,  한백형 ,  김경석

전자공학회논문지-A

1993 .11

A New MOSFET Design Concept Using Recessed Channel Structure for Deep Submicron Application

Woo Hyeong Lee ,  Yeon Cheol Heo ,  Young June Pa 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02

Submicron MOSTransistor에서 Hot-Carrier에 의한 열화현상의 연구

최병진 ,  강광남

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .07

Submicron MOS Transistor 에서 Hot-Carrier에 의한 열화현상의 연구 ( Hot-Carrier Induced Degradation in Submicron MOS Transistor )

최병진 ,  강광남

대한전자공학회 학술대회

1987 .07

SUBMICRON DEVICE RELIABILITY RESEARCH

Chenming Hu

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .01

Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상

최락종 ,  이병진 ,  장성준 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

Hot-Carrier 현상을 줄인 새로운 구조의 자기-정렬된 ESD MOSFET의 분석 ( Analysis of a Novel Self-Aligned ESD MOSFET having Reduced Hot-Carrier Effects )

김경환 ,  장민우 ,  최우영

전자공학회논문지-D

1999 .05