Low Power Static RAM Design for Data Retention

Byungok Choi ,  Hong-June Pa ,  k 외 1명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

2006 .06

스케일링 및 데이터 보존을 위한 2단자 사이리스터 랜덤 액세스 메모리 (T-RAM) 특성 분석

김향우 ,  조현수 ,  최민근 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2020 .08

RAM의 병렬 테스팅을 위한 알고리듬개발 및 테스트 회로 설계에 관한 연구 ( A Study on the Test Circuit Design and Development of Algorithm for Parallel RAM Testing )

조현묵 ,  백경갑 ,  백인천 외 1명

한국통신학회논문지

1992 .07

Self-Retention of Data in Power-Gated Circuits

Jun Seomun ,  Youngsoo Shin

대한전자공학회 ISOCC

2009 .11

저전압 DRAM 회로 설계 검토 및 제안 ( Reviews and Proposals of Low-Voltage DRAM Circuit Design )

김영희 ,  김광현 ,  박홍준 외 2명

전자공학회논문지-SD

2001 .04

Data Retention Time and Electrical Characteristics of Cell Transistor According to STI Materials in 90 ㎚ DRAM

S.H. Shin ,  S.H. Lee ,  Y.S. Kim 외 12명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2003 .06

DRAM 특집을 내면서

진대제

전기의세계

1989 .04

저전력 DRAM을 위한 온-칩 온도 감지 회로

김영식 ,  이종석 ,  양지운 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

1996 .11

Investigation of Modified 1T DRAM with Twin Gate Tunneling Field Effect Transistor for Improved Retention Characteristics

Dong Chang Han ,  Deok Jin Jang ,  Jae Yoon Lee 외 2명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2020 .04

개선된 전력소비 특성을 갖는 Dram용 감지회로 설계에 관한 연구 ( A Study on the Design of Sense Amplifier With Enhanced Power Consumption Characteristic for Dram`s )

김대순 ,  백덕수 ,  김태형 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .11

Polymer Retention Chemistry in Paper - Making

오세균

한국고분자학회 학술대회 연구논문 초록집

1987 .10

Embedded RAM 테스트를 위한 BIST 회로 설계

김지현 ,  성경호 ,  장종권

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

A Logic-compatible Embedded DRAM Utilizing Common-body Toggled Capacitive Cross-talk

Weijie Cheng ,  H ,  itom Das 외 1명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2016 .12

기초회로실험을 통한 여러 가지 회로 설계

진정아 ,  최연성 ,  김잔디 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2014 .11

Recent Trends in High Density Memory Design PART 1 : Static RAM Design PART 2 : Dynamic RAM Design

Katsuhi ,  o Shimohigashi

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1991 .01

야전운용제원을 활용한 지상무기체계 RAM 분석 절차 및 사례연구

박경미

한국산학기술학회 논문지

2019 .05

A Study On the Retention Time Distribution with Plasma Damage Effect

Yi Jae Young ,  Szi ,  may Laszlo 외 1명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

2004 .08

정전기에 의한 CMOS DRAM 내부 회로의 파괴 Mechanism 과 입력 보호 회로의 개선 ( ESD damage Mechanism of CMOS DRAM internal circuit and improvement of input protection circuit )

이호재 ,  오춘식

전자공학회논문지-A

1994 .12

A Nonvolatile Refresh Scheme Adopted 1T-FeRAM for Alternative 1T-DRAM

Hee-Bok Kang ,  Bok-Gil Choi ,  Man Young Sung

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2008 .03