Hot Carrier Effects in the Deep Submicrometer SC-PMOSFET

장성준 ,  김형기 ,  김용택 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1996 .01

Deep Submicrometer 표면 채널형 PMOSFET의 단채널 특성 ( The Characteristics of Short Channel Effect in Deep Submicrometer Surface-Channel PMOSFETs )

이재기 ,  홍성희

한국통신학회 전문대학 논문지

1996 .01

양 방향 Hot Carrier 스트레스에 의한 PMOSFET 노쇠화 ( PMOSFET Degradation due to Bidirectional Hot Carrier Stress )

김용탁 ,  김덕기 ,  유종근 외 3명

전자공학회논문지-A

1995 .06

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of PMOSFET Under AC Stress )

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot-Carrier로 인한 PMOSFET의 소자 수명시간 예측 모델링 ( I ) ( A Lifetime Prediction Modeling for PMOSFET degraded by Hot-Carrier ( I ) )

정우표 ,  류동렬 ,  양광선 외 2명

전자공학회논문지-A

1993 .08

Hot Carrier Effects in Extreme Submicrometer CMOS

Jong Tae Pa ,  k ,  Dae Nam Ha 외 5명

Journal of Electrical Engineering and information Science

1998 .08

An Extraction model of the Threshold voltage due to hot Carrier Effect in Deep Submicrometer MOSFETs

Seog Ju Oh

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1994 .01

Hot-Carrier로 인한 PMOSFET의 소자 수명시간 예측 모델링 ( II ) ( A Lifetime Prediction Modeling for PMOSFET degraded by Hot-Carrier ( II ) ) ( A Lifetime Prediction Modeling Using Gate Current for PMOSFET )

정우표 ,  류동렬 ,  양광선 외 2명

전자공학회논문지-A

1993 .09

δ 도핑된 Si_0.8Ge_0.2 0.13㎛ pMOSFET 소자 특성 조사

오순영 ,  남령진 ,  조남인

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

0.1㎛ 레벨 PMOSFET의 소자 열화에 관한 연구 ( A Study on the Device Degradation with 0.1㎛ level PMOSFET )

홍성희 ,  이용수

한국통신학회논문지

1998 .11

직류 및 교류스트레스 조건에서 발생된 Hot-Carrier가 PMOSFET의 누설전류에 미치는 영향 ( Hot-Carrier Induced GIDL Characteristics of PMOSFETs under DC and Dynamic Stress )

류동렬 ,  이상돈 ,  박종태 외 1명

전자공학회논문지-A

1993 .12

Hot-Carrier 스트레스에 의하여 발생된 계면상태가 PMOSFET의 밴드간 터널링 전류에 미치는 영향 ( The Effect of Interface State ( Nit ) Generated by Hot-Carrier Stress on GIDL Current of PMOSFET )

김호 ,  유동열 ,  이상돈 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1993 .01

Hot electron 에 의하여 노쇠화된 PMOSFET 의 문턱전압과 유효 채널길이 모델링 ( The Threshold Voltage and the Effective Channel Length Modeling of Degraded PMOSFET due to Hot Electron )

홍성택 ,  박종태

전자공학회논문지-A

1994 .08

저전압에서 Deep Submicrometer NMOSFET의 소자 열화 ( Degradation of Deep Submicrometer NMOSFET At Low Voltage )

장성준 ,  하대남 ,  김동욱 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

저전압에서 Deep Submicrometer NMOSFET의 소자 열화

장성준 ,  하대남 ,  김동욱 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

PMOSFET에서 Hot Carrier Lifetime은 Hole injection에 의해 지배적이며, Nano-Scale CMOSFET에서의 NMOSFET에 비해 강화된 PMOSFET 열화 관찰

나준희 ,  최시윤 ,  김용구 외 1명

전자공학회논문지-SD

2004 .07

SC-PMOSFET 의 수평 전계 모델과 노쇠화 메커니즘 ( Lateral Electric Field Model and Degradation Mechanism of Surface-Channel PMOSFET`s )

양광선 ,  박종태 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1994 .01

BF2 이온 주입된 P 다결정실리콘 게이트 PMOSFET의 Hot-Carrier 효과 ( Hot-Carrier Effect of BF2 Implanted p Polysilicon Gate PMOSFET )

김정태 ,  유동열 ,  양광선 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1991 .01

고온에서 PD-SOI PMOSFET의 소자열화

박원섭 ,  박장우 ,  윤 세레나 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2003 .07