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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 SD編 第45卷 第2號
발행연도
2008.2
수록면
93 - 100 (8page)

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본 논문에서는 NoC 기반 SoC의 테스트 시간을 감소시키기 위하여 NoC를 TAM으로 재활용하는 구조를 바탕으로 하는 새로운 형태의 스케쥴링 알고리즘을 제안한다. 제안한 방식에서는 기존 연구된 NoC 테스트 플랫폼을 사용하여 스케쥴링 문제를 rectangle packing 문제로 변환하고 이를 simulated annealing(SA) 기법을 적용하여 향상된 스케쥴링 결과를 유도한다. ITC'02 벤치회로를 이용한 실험 결과 제안한 방법이 기존 방법에 비해 최대 2.8%까지 테스트 시간을 줄일 수 있음을 확인하였다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 기존 연구의 정리
Ⅲ. Rectangle Packing 기반 테스트 스케쥴링
Ⅳ. SA 기반 테스트 스케쥴링 알고리즘
Ⅴ. 성능 평가 및 실험 결과
Ⅵ. 결론
참고문헌
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