An Efficient Delay Test Method Using Boundary-Scan Architecture

Yong Min Hu ,  Keun Jang Ryoo ,  Jac Heung Shin 외 5명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

연결선의 완벽한 진단을 위한 테스트 패턴의 생성 ( A New Complete Diagnosis Patterns for Wiring Interconnects )

박성주

전자공학회논문지-A

1995 .09

Boundary - Scan 방식을 이용한 인쇄회로기판 테스트

김유인 ,  류근장 ,  손윤식 외 3명

한국정보과학회 학술발표논문집

1992 .10

A Low Power Scan Design Architecture

Insoo Kim ,  Susik Pa ,  k 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2004 .10

경계 주사 아키텍처를 이용한 지연 고장 테스트 기법 ( Delay Fault Testing Techniques Using Boundary - Scan Architecture )

허용민 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1994 .11

A new Diagnosis Patterns for Wiring Interconnects

박성주

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

경계주사가 적용된 보드상에서의 고장모델 및 그 진단기법

문권우 ,  송오영

한국통신학회 학술대회논문집

1999 .11

Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 테스트 패턴 인가 방식 ( An Efficient Test Pattern Application Method Using Boundary-Scan Architecture )

류근장 ,  이인학 ,  손윤식 외 6명

대한전자공학회 학술대회

1993 .01

A New Complete Diagnosis Patterns for Wiring Interconnects

Sungju Pa ,  k

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

화물 검색시스템 구현 및 Boundary_Scan Test

김봉수 ,  김인수 ,  유선원 외 4명

대한전기학회 학술대회 논문집

2002 .11

회로 기판상의 연결 테스트에 대한 분할 그룹 워킹 시퀀스

金鉉振 ,  辛宗哲 ,  姜成昊

전기학회논문지

1998 .12

A New Scan Chain Fault Simulation for Scan Chain Diagnosis

Sunghoon Chun ,  Taejin Kim ,  Eun Sei Pa 외 2명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2007 .12

A New Low Power Scan Architecture Considering Test Data Compression

Hong-Sik Kim ,  Beom Ik Cheon ,  Kyu-Myung Choi 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

‘경계’의 개념으로 본 학생건축작품전의 최근 경향에 관한 연구 : 2003~2005년도 ‘부산건축대전’ 출품작을 중심으로

정순목 ,  이동언

대한건축학회 학술발표대회 논문집 - 계획계

2005 .10

회로 연결선 성능 데이터베이스를 이용한 소자설계 도구

백종흠 ,  김준희 ,  김부성 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1997 .06

회로 연결선 성능 데이터베이스를 이용한 소자 설계 도구 ( Design and analysis Tool Using Interconnect Performance Database )

백종흠 ,  김준희 ,  김부성 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1997 .07

현대 건축의 경계에서 나타나는 어포던스의 특성분석에 관한 연구

이승윤 ,  이영수

대한건축학회 학술발표대회 논문집 - 계획계

2010 .10

Are You O.K! Architecture?

조충기

건축사

2007 .01

Dynamically Changeable Secure Scan Architecture against Scan-Based Side Channel Attack

Yuta Atobe ,  Youhua Shi ,  Masao Yanagisawa 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2012 .11

T-Scanning Method에 의한 접합 경계면의 화상해석

김재열 ,  오성민 ,  홍원 외 2명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

1998 .11