An Efficient Delay Test Method Using Boundary-Scan Architecture

Yong Min Hu ,  Keun Jang Ryoo ,  Jac Heung Shin 외 5명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

테스트 시간과 테스트 전력 감소를 위한 선택적 세그먼트 바이패스 스캔 구조

양명훈 ,  김용준 ,  박재석 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .05

Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 지연테스트기법 설계

이인학 ,  손윤식 ,  류근장 외 5명

한국정보과학회 학술발표논문집

1993 .10

경계면 - 스캔 기저 구조를 위한 지연시험 ( Delay Test for Boundary - Scan based Architectures )

강병욱 ,  안광선

전자공학회논문지-A

1994 .06

Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안

김용준 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2008 .10

Boundary - Scan 방식을 이용한 인쇄회로기판 테스트

김유인 ,  류근장 ,  손윤식 외 3명

한국정보과학회 학술발표논문집

1992 .10

‘경계’의 개념으로 본 학생건축작품전의 최근 경향에 관한 연구 : 2003~2005년도 ‘부산건축대전’ 출품작을 중심으로

정순목 ,  이동언

대한건축학회 학술발표대회 논문집 - 계획계

2005 .10

화물 검색시스템 구현 및 Boundary_Scan Test

김봉수 ,  김인수 ,  유선원 외 4명

대한전기학회 학술대회 논문집

2002 .11

지연고장 검출을 위한 LOS/LOC 스캔 테스트 기술

허용민 ,  최영철

한국인터넷방송통신학회 논문지

2014 .01

경계검사가 필요 없는 효율적인 연결요소 라벨링 구현방법

김교일

한국정보기술학회논문지

2013 .05

Boundary Scan 방식을 이용한 테스터블 Board 설계 ( A Testable Board Design Using the Boundary Scan Test Method )

전태호 ,  김유인 ,  신재흥 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  신상훈 ,  박성주

정보과학회논문지(A)

1999 .09

구조분석과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .10

테스트 시간 단축을 위한 새로운 스캔 설계방식 ( NSOM : A New Scan Design Method for Test Time Reduction )

이영호 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

1991 .07

경계스캔 구조를 사용한 시스템의 온라인 버스 모니터링

宋東燮 ,  裵相民 ,  姜成昊 외 1명

전기학회논문지 D

2000 .12

자체 스캔 체인을 이용한 Built-In Self-Test 구조에 관한 연구

한진욱 ,  민형복

전자공학회논문지-SD

2002 .03

경계 주사 환경에서의 상호연결 테스트 방법론에 대한 연구

김현진 ,  신종철 ,  강성호

대한전기학회 학술대회 논문집

1998 .11

현대 건축의 경계에서 나타나는 어포던스의 특성분석에 관한 연구

이승윤 ,  이영수

대한건축학회 학술발표대회 논문집 - 계획계

2010 .10

경계 주사 아키텍처를 이용한 지연 고장 테스트 기법 ( Delay Fault Testing Techniques Using Boundary - Scan Architecture )

허용민 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1994 .11

Boundary Scan Architecture를 이용한 회로기판 내의 연결선 고장진단에 관한 연구

李宰勳 ,  玄昌煥 ,  閔炯福

전기학회논문지

1997 .11