Scanning Probe Microscopy를 이용한 국소영역에서의 실리콘 나노크리스탈의 전기적 특성 분석

金政民 ,  許泫廷 ,  姜致中 외 1명

전기학회논문지 C

2005 .10

SPM(Scanning Probe Microscopy)을 이용한 국소영역에서 실리콘 나노크리스탈의 전기적 특성 분석

최민기 ,  김정민 ,  김치중 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

2004 .11

SPM(Scanning Probe Microscopy)

박상일

기계와 재료

2002 .01

SPM(Scanning Probe Microscopy) 기술을 이용한 고분자 재료 분석

유경희 ,  신현정

고분자 과학과 기술

2007 .12

SPM 기술과 고분자 분석

윤완수

고분자 과학과 기술

2004 .06

Study of Nano-Structure by Using Scanning Probe Microscopy

K ,  Young-u

한국재료학회 학술발표대회

1992 .01

Scanning Probe Microscopy of Polymer Materials

K . J . Ihn ,  J . A . N . Zasadzinski

고분자 과학과 기술

1992 .03

A Scanning Capacitance Microscopy Study on the Recombination Dynamics of Traps in SiO2 Layer on Si

강치중 ,  부경호 ,  이승준 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

Electrical Characteristics of Thin SiO₂ Layer

Nung-Pyo Hong ,  Jin-Woong Hong

KIEE International Transactions on Electrophysics and Applications

2003 .04

Si$O_{2}/{Si}_{0.7}{Ge}_{0.3}/SiO_{2}$계에서의 계면응집현상에 의한 양자점 형성에 관한 연구

윤태식 ,  권장연 ,  이동훈 외 2명

한국재료학회 학술발표대회

1997 .01

Reliable and High Spatial Resolution Method to Identify the Number of MoS₂ Layers Using a Scanning Electron Microscopy

Sha ,  bid ,  e 외 20명

한국재료학회지

2017 .01

Capacitance-Voltage Characteristics in the Double Layers of SiO₂/Si₃N₄

洪能杓 ,  洪眞雄

전기학회논문지 C

2003 .10

SiO₂/Si₃N₄ 2중층 박막의 유전특성

고길영 ,  김균식 ,  홍능표 외 3명

대한전기학회 학술대회 논문집

2003 .07

다결정 Si/SiO₂ ∥ Si 적층구조에서 SiO₂층의 두께에 따른 유전특성의 변화

송오성 ,  이영민 ,  이진우

한국표면공학회지

2000 .08

Scientific Investigation of Nanostructured Oxide Zinc Films by Scanning Probe Microscopy Method

Alpysbaeva B ,  Ko ,  obova N.

INTERNATIONAL CONFERENCE ON FUTURE INFORMATION & COMMUNICATION ENGINEERING

2009 .06

Effects of Alkali Metal Doping in the Low-Temperature Grown Cu(In,Ga)Se₂ Thin Films on Flexible Polyimide Probed by Scanning Probe Microscopy

Ju ,  an Kim ,  Kihwan Kim 외 3명

AFORE

2019 .11

SIMS를 이용한 SiO₂/PSG/SiO₂/Al-1%Si 및 SiO₂/TEOS/SiO₂/Al-1%Si 적층 박막내의 Na 게터링 분석

김진영

한국표면공학회지

2018 .04

Si-SiO₂系의 問題点과 研究動向

成英權

전기의세계

1985 .06

Study of Organic Thin Films by Scanning Probe Microscopes

Masamichi Fujihi ,  a

한국고분자학회 학술대회 연구논문 초록집

1995 .04

Near Field Scanning Probe 용 Test Fixture 에 관한 연구

여순일 ,  김영호 ,  위재경 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

2012 .02