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저자정보
Jae Hoon Kim (포항공과대학교) Wook Kim (포항공과대학교) Young Hwan Kim (포항공과대학교)
저널정보
대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC : 2009
발행연도
2009.7
수록면
153 - 156 (4page)

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With the rapid increase of process variation, the necessity of high-level statistical analysis that considers the performance variation of circuit components is being emphasized today. However, while most work on statistical leakage estimation has focused on gate-level design, its use for high-level design has not been well established yet. This paper assesses the effectiveness of using statistical leakage estimation for high-level design through the extensive comparison of the worst-case leakage estimation results with those of the statistical leakage estimation.

목차

Abstract
1. Introduction
2. Background
3. Experimental results
4. Conclusion
Acknowledgement
References

참고문헌 (0)

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2012-569-004019997